SJ 50033/133-1997《半导体分立器件SY5629～5665A型瞬态电压抑制二极管详细规范》

SJ 50033/133-1997《半导体分立器件SY5629～5665A型瞬态电压抑制二极管详细规范》基本信息

标准号：SJ 50033/133-1997

中文名称：《半导体分立器件SY5629～5665A型瞬态电压抑制二极管详细规范》

发布日期：1997-06-17    

实施日期：1997-10-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

提出单位：中国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：国营第八七三厂

起草人：罗泽辉、刘东才、邹盛琳    

中国标准分类号：L5961

SJ 50033/133-1997《半导体分立器件SY5629～5665A型瞬态电压抑制二极管详细规范》介绍

SJ 50033/133-1997标准是由中华人民共和国电子工业部发布，该标准发布于1997年6月17日，并于1997年10月1日正式实施。

一、标准适用范围

该标准主要适用于半导体分立器件SY5629～5665A型瞬态电压抑制二极管的设计、生产、检验和验收等环节。这些瞬态电压抑制二极管广泛应用于各种电子设备中，如通信设备、计算机、家用电器等，以保护电路免受瞬态过电压的损害。

二、技术要求

1、额定参数

标准规定了瞬态电压抑制二极管的额定参数，包括最大反向工作电压、最大脉冲峰值电流、最大瞬态功率等。这些参数是瞬态电压抑制二极管正常工作的基本保障。

2、性能要求

标准对瞬态电压抑制二极管的性能提出了具体要求，如反向工作电压、正向导通电压、电容、响应时间等。这些性能指标直接关系到瞬态电压抑制二极管的保护效果和应用范围。

3、外观质量

标准对瞬态电压抑制二极管的外观质量进行了规定，包括无裂纹、无破损、无污染等。外观质量是瞬态电压抑制二极管正常工作的重要保障。

4、可靠性要求

标准对瞬态电压抑制二极管的可靠性提出了要求，如老化试验、温度循环试验等。可靠性要求是确保瞬态电压抑制二极管在各种环境条件下正常工作的关键。

三、检验方法

1、外观检查

标准规定了对瞬态电压抑制二极管外观进行视觉检查的方法，以确保产品外观质量符合要求。

2、电气性能试验

标准规定了对瞬态电压抑制二极管电气性能进行测试的方法，包括反向工作电压、正向导通电压、电容、响应时间等性能指标的测试。

3、可靠性试验

标准规定了对瞬态电压抑制二极管进行可靠性试验的方法，如老化试验、温度循环试验等。

四、验收规则

标准对瞬态电压抑制二极管的验收提出了具体要求，包括抽样方法、检验项目、合格判定等。这些要求有助于确保瞬态电压抑制二极管的质量，满足电子设备的应用需求。

SJ 50033/133-1997《半导体分立器件SY5629～5665A型瞬态电压抑制二极管详细规范》标准为瞬态电压抑制二极管的设计、生产、检验和验收等环节提供了详细的指导，有助于提高瞬态电压抑制二极管的性能和可靠性，保障电子设备的正常运行和使用寿命。通过遵循该标准，相关企业和研发人员可以更加规范地开展瞬态电压抑制二极管的研发和生产工作。