SJ/T 10648-1995《薄膜介质调谐可变电容器结构型式及尺寸》

SJ/T 10648-1995《薄膜介质调谐可变电容器结构型式及尺寸》基本信息

标准号：SJ/T 10648-1995

中文名称：《薄膜介质调谐可变电容器结构型式及尺寸》

发布日期：1995-04-22    

实施日期：1995-10-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：电子工业部标准化研究所    

起草单位：电子工业部标准化研究所

起草人：纪善恩、魏启富    

中国标准分类号：D01技术管理

SJ/T 10648-1995《薄膜介质调谐可变电容器结构型式及尺寸》介绍

中华人民共和国电子工业部于1995年发布了《薄膜介质调谐可变电容器结构型式及尺寸》标准，即SJ/T 10648-1995。SJ/T 10648-1995标准自1995年10月1日起实施。

一、标准概述

SJ/T 10648-1995标准规定了薄膜介质调谐可变电容器的结构型式、尺寸要求以及相关的测试方法。这一标准适用于所有薄膜介质调谐可变电容器的设计、生产和检验，确保了产品的一致性和可靠性。

二、结构型式

1、基本结构

标准详细描述了薄膜介质调谐可变电容器的基本结构，包括电极、介质层和调谐装置等组成部分。这些结构的设计直接影响电容器的性能，如电容值的变化范围、调谐速度和稳定性等。

2、型式分类

标准根据电容器的应用场景和性能要求，将薄膜介质调谐可变电容器分为不同的型式。每种型式都有其特定的设计要求和应用范围，以满足不同电子产品的需求。

三、尺寸要求

1、尺寸规格

标准规定了薄膜介质调谐可变电容器的主要尺寸参数，包括电容器的物理尺寸、电极间距和介质层厚度等。

2、公差范围

为了确保电容器的批量生产质量，标准还规定了尺寸参数的公差范围。这些公差范围允许一定程度的制造误差，确保电容器的性能满足设计要求。

四、测试方法

1、性能测试

标准详细描述了薄膜介质调谐可变电容器的性能测试方法，包括电容值测试、调谐速度测试和稳定性测试等。这些测试方法有助于评估电容器的性能是否符合设计要求。

2、耐久性测试

为了确保电容器的长期可靠性，标准还规定了耐久性测试方法。这些测试包括温度循环测试、湿度测试和机械振动测试等，以评估电容器在恶劣环境下的性能。

SJ/T 10648-1995《薄膜介质调谐可变电容器结构型式及尺寸》标准的发布和实施，对于规范薄膜介质调谐可变电容器的设计与生产，提高电子产品的质量和可靠性具有重要意义。通过遵循这一标准，制造商能够生产出性能稳定、可靠的电容器，从而满足市场需求，推动电子工业的发展。