YS/T 923.2-2013《高纯铋化学分析方法 第2部分： 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法》

YS/T 923.2-2013《高纯铋化学分析方法 第2部分： 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法》基本信息

标准号：YS/T 923.2-2013

中文名称：《高纯铋化学分析方法 第2部分： 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法》

发布日期：2013-10-17    

实施日期：2014-03-01

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部    

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)    

起草单位：北京有色金属研究总院等

起草人：李宝城、刘英、孙泽明、童坚、李继东、臧慕文、李娜、张金娥、赵永善、张江峰、邱平、秦芳林、文英、王攀峰    

中国标准分类号：H13重金属极其合金分析方法

国际标准分类号：77.120.99其他有色金属及其合金

YS/T 923.2-2013《高纯铋化学分析方法 第2部分： 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法》介绍

2013年10月17日，中华人民共和国工业和信息化部发布了YS/T 923.2-2013《高纯铋化学分析方法 第2部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法》标准，该标准自2014年3月1日起正式实施。

一、标准概述

YS/T 923.2-2013标准规定了一种用于测定高纯铋中痕量杂质元素含量的化学分析方法，即辉光放电质谱法（Glow Discharge Mass Spectrometry, GD-MS）。该方法具有高灵敏度、高准确度和高再现性等优点，适用于高纯铋中多种元素的定量分析。

二、标准内容

1、适用范围：该标准适用于高纯铋材料中痕量杂质元素的测定，包括但不限于Al、As、B、Ba、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Ga、In、K、Mg、Mn、Na、Ni、P、Pb、Sb、Se、Sn、Sr、Ti、V、Y、Zn等元素。

2、原理：辉光放电质谱法利用辉光放电产生的等离子体，将高纯铋样品中的杂质元素原子化并电离，然后通过质谱仪进行分析，根据质谱图谱峰的强度，计算杂质元素的含量。

3、仪器设备：标准中明确了所需的仪器设备，包括辉光放电质谱仪、样品制备设备、标准物质、试剂等。

4、样品制备：对样品的制备过程进行了详细的规定，包括样品的切割、研磨、称量等步骤，以确保样品的代表性和准确性。

5、分析步骤：详细描述了分析过程中的各个步骤，包括样品的引入、辉光放电条件的设置、质谱分析参数的优化等。

6、结果计算：提供了计算杂质元素含量的方法，包括标准曲线法、内标法等，并对结果的准确度、精密度等进行了规定。

三、标准意义

YS/T 923.2-2013标准的发布和实施，对于提高我国高纯铋材料的质量控制水平具有重要意义。通过采用辉光放电质谱法进行高纯铋中痕量杂质元素的定量分析，可以更准确地评估材料的纯度和性能，为高纯铋材料在各领域的应用提供可靠的质量保证。