“光学系统像质测试方法”的标准号是:GB/T 11168-2009
GB/T 11168-2009《光学系统像质测试方法》由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会于2009-09-30发布,并于2009-12-01实施。
该标准的起草单位为上海理工大学;起草人是冯琼辉、章慧贤 。
“光学系统像质测试方法”介绍
光学系统像质测试方法是用于评估和量化光学系统成像性能的一系列技术和程序。这些测试方法对于确保光学组件和系统能够达到预期的性能指标至关重要。在光学领域,像质测试通常包括对系统的分辨率、畸变、场曲、色差以及杂散光等参数的测定。
常用的光学系统像质测试方法有星点试验、分辨率测试、波前检测等。星点试验是通过观察点光源经过光学系统后的成像来评价系统的成像质量,它能够揭示出系统中的像差和缺陷。分辨率测试则使用特定的高对比度图案,如美国空军分辨率图案,来判断光学系统分辨细节的能力。波前检测技术利用干涉原理来测量通过光学系统的光波前的变形,从而精确地评价系统的成像误差。
除了上述方法,还有刀口检测、斯特列尔比测量、调制传递函数等多种测试手段,这些方法各有侧重,可根据实际需求和条件选择适合的测试方法。通过对光学系统进行综合的像质测试,工程师可以诊断出潜在的问题,并针对性地进行优化和改进,以确保光学系统在各种应用中都能提供高质量的图像。
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