SJ 50033/157-2002《半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范》

SJ 50033/157-2002《半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范》基本信息

标准号：SJ 50033/157-2002

中文名称：《半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范》

发布日期：2002-10-30    

实施日期：2003-03-01

发布部门：中华人民共和国信息产业部    

提出单位：中华人民共和国信息产业部    

归口单位：信息产业部电子第四研究所    

起草单位：信息产业部电子第四研究所

中国标准分类号：L40半导体分立器件综合

SJ 50033/157-2002《半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范》介绍

《半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范》（以下简称“SJ 50033/157-2002标准”）是由中华人民共和国信息产业部发布的，本标准自2003年3月1日起正式实施。

一、标准适用范围

SJ 50033/157-2002标准适用于3DA506型硅微波脉冲功率晶体管的生产和应用。该标准规定了晶体管的电气特性、机械特性、温度特性等方面的技术要求，以及测试方法和质量评定标准。

二、电气特性规定

在电气特性方面，SJ 50033/157-2002标准对3DA506型硅微波脉冲功率晶体管的集电极电流、集电极电压、功率耗散、击穿电压等参数进行了详细规定。这些参数是衡量晶体管性能的关键指标，对于保证晶体管在微波通信、雷达等应用中的可靠性和稳定性具有重要意义。

三、机械特性规定

在机械特性方面，标准对晶体管的外形尺寸、重量、安装方式等进行了规定。这些要求有助于确保晶体管在不同应用场景下的兼容性和互换性，提高产品的通用性。

四、温度特性规定

SJ 50033/157-2002标准还对晶体管的温度特性进行了规定，包括工作温度范围、存储温度范围等。这些要求有助于确保晶体管在不同环境条件下的性能稳定性，延长其使用寿命。

五、测试方法规定

为确保晶体管满足标准要求，SJ 50033/157-2002标准对测试方法进行了详细规定。包括电气参数测试、机械特性测试、温度特性测试等。这些测试方法为生产企业和科研机构提供了明确的技术指导，有助于提高产品质量。

六、质量评定规定

SJ 50033/157-2002标准还对晶体管的质量评定进行了规定，包括外观检查、性能测试、可靠性测试等。这些质量评定要求有助于确保晶体管在生产和应用过程中的可靠性和稳定性，提高产品的市场竞争力。

SJ 50033/157-2002《半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范》的发布和实施，对于规范3DA506型硅微波脉冲功率晶体管的生产和应用，提高产品质量和市场竞争力具有重要意义。相关企业和科研机构应严格按照标准要求进行生产和研发，不断提高产品的性能和可靠性