GB/T 4937.11-2018《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》

GB/T 4937.11-2018《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》基本信息

标准号：GB/T 4937.11-2018

中文名称：《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》

发布日期：2018-09-17    

实施日期：2019-01-01

发布部门：国家市场监督管理总局  国家标准化管理委员会    

提出单位：中华人民共和国工业和信息化部    

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)    

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人：张天福、高金环、彭浩、李树杰、于学东、崔波、裴选、迟雷、张艳杰    

中国标准分类号：L40半导体分立器件综合

国际标准分类号：31.080.01半导体器件综合

GB/T 4937.11-2018《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》介绍

《GB/T 4937.11-2018《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》》是一项由国家市场监督管理总局和国家标准化管理委员会联合发布的国家标准。该标准于2018年9月17日发布，并于2019年1月1日正式实施。

一、标准适用范围

本标准适用于半导体器件的快速温度变化试验，特别是采用双液槽法进行的试验。这种方法通过将半导体器件交替浸入两种不同温度的液体中，模拟器件在实际使用过程中可能遇到的快速温度变化环境，以评估其性能和可靠性。

二、标准主要内容

1、术语和定义

标准首先定义了与快速温度变化试验相关的术语和定义，如“双液槽法”、“温度变化速率”等，为后续的试验方法和评价标准提供基础。

2、试验设备和材料

标准详细描述了进行快速温度变化试验所需的设备和材料，包括温度控制设备、液体介质、测试夹具等，并对其性能和规格提出了具体要求。

3、试验条件

标准规定了试验的初始条件、温度变化范围、温度变化速率、浸渍时间等关键参数。

4、试验步骤

标准详细阐述了试验的具体步骤，包括器件的准备、温度变化的实施、试验过程中的观察和记录等。这些步骤的规范有助于确保试验的一致性和可重复性。

5、结果评定

标准提出了对试验结果的评定方法，包括对器件性能的变化、外观的检查等方面的要求。通过这些评定方法，可以客观地评估半导体器件在快速温度变化条件下的性能和可靠性。

三、标准的意义

GB/T 4937.11-2018的发布和实施，对半导体器件的生产和质量控制具有重要意义。它为半导体器件的快速温度变化试验提供了统一的方法和标准，有助于提高试验的准确性和可靠性。通过规范试验条件和步骤，可以确保不同实验室和生产厂商之间的试验结果具有可比性，从而促进半导体器件质量的统一和提升。该标准的实施有助于提高半导体器件在严苛环境中的性能和可靠性，保障电子产品的稳定性和安全性。