SJ 20069-1992《半导体分立器件 ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》

SJ 20069-1992《半导体分立器件  ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》基本信息

标准号：SJ 20069-1992

中文名称：《半导体分立器件  ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》

发布日期：1992-11-19    

实施日期：1993-05-01

发布部门：中国电子工业总公司    

提出单位：中国电子工业总公司科技质量局    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：中国电子技术标准化研究所无锡无线电件四厂和济南半导体四厂

起草人：于志贤、翁寿松、李文盛    

中国标准分类号：B01技术管理

SJ 20069-1992《半导体分立器件  ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》介绍

中国电子工业总公司于1992年11月19日发布了SJ 20069-1992《半导体分立器件 ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》（以下简称“本标准”），并于1993年5月1日起正式实施。

一、标准概述

本标准主要规定了2CK76型硅开关二极管的分类、命名、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等方面的要求。

二、分类与命名

1、分类

本标准将2CK76型硅开关二极管按照其封装形式和引线形式进行分类，以便于用户根据实际需求进行选择。

2、命名

2CK76型硅开关二极管的命名遵循一定的规则，包括型号、封装形式、引线形式等信息，以便于用户识别和查询。

三、技术要求

1、外观质量

本标准对2CK76型硅开关二极管的外观质量提出了明确的要求，包括无裂纹、无缺损、无变形等，以确保其在使用过程中的稳定性。

2、电性能参数

本标准详细规定了2CK76型硅开关二极管的电性能参数，如正向电压、反向电压、电流容量等，以满足不同应用场景的需求。

3、可靠性要求

为了保证2CK76型硅开关二极管的长期稳定性和可靠性，本标准对其可靠性提出了严格的要求，包括高温寿命试验、温度循环试验等。

四、试验方法

1、外观检查

本标准规定了2CK76型硅开关二极管外观检查的方法和要求，以确保其外观质量符合标准要求。

2、电性能测试

本标准详细规定了2CK76型硅开关二极管电性能测试的方法和步骤，包括正向电压测试、反向电压测试、电流容量测试等。

3、可靠性试验

本标准对2CK76型硅开关二极管的可靠性试验提出了明确要求，包括高温寿命试验、温度循环试验等，以评估其在实际应用中的可靠性。

五、检验规则

1、检验分类

本标准将2CK76型硅开关二极管的检验分为出厂检验和型式检验，以确保其在生产和使用过程中的质量。

2、抽样规则

本标准规定了2CK76型硅开关二极管的抽样规则，以确保检验结果的代表性和准确性。

3、判定规则

本标准明确了2CK76型硅开关二极管的判定规则，包括合格品和不合格品的判定标准，以便于用户进行质量控制。

六、标志、包装、运输和储存

1、标志

本标准规定了2CK76型硅开关二极管的标志要求，包括型号、生产日期、生产厂家等信息，以便于用户识别和追溯。

2、包装

本标准对2CK76型硅开关二极管的包装提出了明确的要求，以确保其在运输和储存过程中的安全性。

3、运输

本标准规定了2CK76型硅开关二极管的运输要求，以防止在运输过程中的损坏。

4、储存

本标准对2CK76型硅开关二极管的储存环境和条件提出了要求，以确保其长期稳定性和可靠性。

SJ 20069-1992《半导体分立器件 ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》的发布和实施，为2CK76型硅开关二极管的生产和应用提供了明确的规范和指导。通过遵循本标准的要求，可以确保2CK76型硅开关二极管的性能和质量，满足电子设备的需求，提高整个电子系统的稳定性和可靠性。