SJ 20869-2003《铌酸锂集成光学波导调制器测试方法》

SJ 20869-2003《铌酸锂集成光学波导调制器测试方法》基本信息

标准号：SJ 20869-2003

中文名称：《铌酸锂集成光学波导调制器测试方法》

发布日期：2003-12-15    

实施日期：2004-03-01

发布部门：中华人民共和国信息产业部    

归口单位：信息产业部电子第四研究所    

起草单位：中国电子科技集团公司第四十九研究所

起草人：李刚毅、沈映欣、郭萍    

中国标准分类号：FL6030

国际标准分类号：31.260光电子学、激光设备

SJ 20869-2003《铌酸锂集成光学波导调制器测试方法》介绍

《铌酸锂集成光学波导调制器测试方法》（标准编号：SJ 20869-2003）是由中华人民共和国信息产业部发布的一项行业标准。该标准自2003年12月15日发布，并于2004年3月1日起正式实施。

一、标准适用范围

本标准适用于铌酸锂集成光学波导调制器的测试，包括但不限于以下类型的调制器：

1、电光调制器

2、热光调制器

3、声光调制器

这些调制器广泛应用于光通信、光计算和光传感等领域，对于提高光信号的传输效率和稳定性具有重要意义。

二、标准主要内容

1、测试环境要求

标准规定了测试环境的温度、湿度、气压等参数，以确保测试结果的准确性和可重复性。测试环境应保持在一定的温度范围内，避免温度波动对测试结果产生影响。

2、测试设备要求

标准详细列出了测试所需的设备和仪器，包括光波导测试仪、光谱分析仪、功率计等。这些设备应具备高精度和稳定性，以确保测试结果的可靠性。

3、测试方法

标准规定了铌酸锂集成光学波导调制器的测试方法，包括：调制器的插入损耗测试、调制器的响应时间测试、调制器的调制带宽测试、调制器的偏振依赖性测试、调制器的非线性特性测试。这些测试方法涵盖了调制器的基本性能参数，有助于全面评估其性能。

4、测试结果的判定

标准规定了测试结果的判定标准，包括：插入损耗的允许偏差、响应时间的允许范围、调制带宽的最小值、偏振依赖性的允许范围、非线性特性的允许范围。这些判定标准有助于确保调制器的性能满足实际应用的需求。

三、标准的意义

《铌酸锂集成光学波导调制器测试方法》的发布和实施，对于推动我国光电子器件行业的技术进步和产业升级具有重要意义。通过规范测试方法，可以提高调制器产品的质量和性能，满足光通信、光计算等领域对高性能调制器的需求。该标准也有助于提高我国在国际光电子器件市场的竞争力，促进相关产业的发展。