SJ 20129-1992《金属镀覆层厚度测量方法》

SJ 20129-1992《金属镀覆层厚度测量方法》基本信息

标准号：SJ 20129-1992

中文名称：《金属镀覆层厚度测量方法》

发布日期：1992-11-19    

实施日期：1993-05-01

发布部门：中国电子工业总公司    

提出单位：中国电子工业总公司科技质量局    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：机械电子工业部第二研究所

起草人：周心才、陈鹏、张仁土    

中国标准分类号：C01技术管理

SJ 20129-1992《金属镀覆层厚度测量方法》介绍

SJ 20129-1992《金属镀覆层厚度测量方法》是中国电子工业总公司于1992年11月19日发布的一项标准，自1993年5月1日起正式实施。

一、适用范围

SJ 20129-1992《金属镀覆层厚度测量方法》适用于所有金属镀覆层的厚度测量，包括但不限于电镀、化学镀、热浸镀等镀覆工艺。该标准涵盖了各种金属镀覆层，如镍、铜、锌、锡、银、金等。

二、测量方法

1、重量法：通过测量镀覆前后金属质量的变化，计算镀覆层的厚度。

2、电解法：通过电解的方式，将镀覆层溶解，测量溶解物质的质量，从而计算镀覆层的厚度。

3、X射线荧光法：利用X射线荧光原理，测量镀覆层中元素的含量，从而计算镀覆层的厚度。

4、干涉法：通过测量光在镀覆层表面的干涉，计算镀覆层的厚度。

三、测量误差

SJ 20129-1992《金属镀覆层厚度测量方法》对测量误差进行了规定。不同测量方法的误差范围不同，具体如下：

1、重量法：误差范围为±5%。

2、电解法：误差范围为±5%。

3、X射线荧光法：误差范围为±10%。

4、干涉法：误差范围为±5%。

四、测量环境

1、温度：测量环境的温度应在20℃±5℃范围内。

2、湿度：测量环境的湿度应在50%±10%范围内。

3、清洁度：测量环境应保持清洁，避免灰尘、油污等对测量结果产生影响。

五、测量结果的处理

1、多次测量：为了提高测量结果的准确性，应进行多次测量，取平均值作为最终结果。

2、数据处理：测量结果应进行必要的数据处理，如去除异常值、进行误差分析等。

3、结果报告：测量结果应以书面形式报告，包括测量方法、测量环境、测量结果等信息。

SJ 20129-1992《金属镀覆层厚度测量方法》作为一项重要的行业标准，对于金属镀覆层的厚度测量具有重要的指导意义。通过规范测量方法、测量误差、测量环境等方面的要求，可以提高金属镀覆层厚度测量的准确性和可靠性，从而保证金属镀覆层的质量。该标准也为金属镀覆层的检测和质量控制提供了重要的参考依据。