




JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》基本信息
标准号:JJF 1150-2006
中文名称:《光电探测器相对光谱响应校准规范》
发布日期:2006-05-23
实施日期:2006-11-23
发布部门:国家质量监督检验检疫总局
归口单位:全国光学计量技术委员会
起草单位:中国测试技术研究院
起草人:曹远生
中国标准分类号:A60光学计量
国际标准分类号:17.180光学和光学测量
JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》介绍
国家质量监督检验检疫总局于2006年发布了JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》。
一、标准的适用范围
JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》主要适用于光电探测器的相对光谱响应校准。该标准规定了校准方法、校准设备、校准过程、校准结果的评估和记录等方面的要求。
二、校准方法
1、单色仪法:利用单色仪产生单色光,通过光电探测器测量其响应,从而得到相对光谱响应。
2、光谱仪法:利用光谱仪测量光电探测器的光谱响应,通过计算得到相对光谱响应。
3、标准光源法:利用标准光源产生已知光谱分布的光,通过光电探测器测量其响应,从而得到相对光谱响应。
三、校准设备
1、单色仪:具有高光谱分辨率和高波长稳定性的单色仪。
2、光谱仪:具有高光谱分辨率和高波长准确性的光谱仪。
3、标准光源:具有已知光谱分布的标准光源。
4、光电探测器:需要校准的光电探测器。
5、其他辅助设备:如电源、信号处理设备等。
四、校准过程
1、准备工作:检查校准设备的工作状态,确保设备正常运行。
2、测量基准响应:利用标准光源测量光电探测器的基准响应。
3、测量相对光谱响应:利用单色仪法、光谱仪法或标准光源法测量光电探测器的相对光谱响应。
4、数据处理:对测量数据进行处理,计算相对光谱响应。
5、结果评估:对校准结果进行评估,判断是否满足标准要求。
五、校准结果的评估和记录
1、结果评估:对校准结果进行评估,判断是否满足标准要求。如不满足要求,需要重新进行校准。
2、结果记录:详细记录校准过程和结果,包括校准方法、校准设备、测量数据、数据处理方法等。
3、报告编制:根据校准结果编制校准报告,报告应包括校准结果、评估结论等内容。
JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》的发布和实施,对于确保光电探测器的性能和可靠性具有重要意义。通过遵循该标准进行校准,可以提高光电探测器的测量精度。
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