SJ/T 11212-1999《石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量》

SJ/T 11212-1999《石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量》基本信息

标准号：SJ/T 11212-1999

中文名称：《石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量》

发布日期：1999-08-26    

实施日期：1999-12-01

发布部门：中华人民共和国信息产业部    

提出单位：电子工业部标准化研究所    

归口单位：电子工业部标准化研究所    

起草单位：电子工业部标准化研究所

起草人：章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林    

中国标准分类号：L21石英晶体、压电元件

SJ/T 11212-1999《石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量》介绍

《石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量》(SJ/T 11212-1999)是中国中华人民共和国信息产业部于1999年8月26日发布的一项国家标准。该标准自1999年12月1日起正式实施。

一、标准制定背景

石英晶体元件是现代电子技术中不可或缺的关键元件，广泛应用于通信、计算机、医疗、航空航天等领域。随着电子技术的快速发展，对石英晶体元件的性能和质量要求越来越高。为了满足这些需求，必须制定一套科学、合理的测量标准，以确保石英晶体元件的性能和质量。

二、标准主要内容

SJ/T 11212-1999标准主要规定了石英晶体元件参数的测量方法，特别是激励电平相关性（DLD）的测量。以下是该标准的主要内容：

1、测量原理

激励电平相关性（DLD）是指石英晶体元件在不同激励电平下，其谐振频率与激励电平之间的关系。DLD是衡量石英晶体元件性能的重要参数之一，对石英晶体元件的稳定性和可靠性具有重要影响。

2、测量条件

标准规定了测量DLD所需的环境条件和设备要求。环境条件包括温度、湿度等，设备要求包括测量仪器的精度、稳定性等。

3、测量方法

标准详细规定了测量DLD的具体步骤和方法，包括激励电平的选择、测量数据的采集、数据处理等。通过这些方法，可以准确地测量石英晶体元件的DLD值。

4、测量结果的表示

标准规定了测量结果的表示方式，包括数据的记录、计算和报告。通过规范的表示方式，可以方便地对测量结果进行比较和分析。

三、标准的意义

SJ/T 11212-1999标准的制定，对于提高石英晶体元件的性能和质量具有重要意义。该标准为石英晶体元件的测量提供了科学、合理的依据，有助于确保测量结果的准确性和可靠性。通过规范测量方法，可以更好地评估石英晶体元件的性能，为石英晶体元件的设计、生产和应用提供重要参考。该标准的实施，有助于提高石英晶体元件行业的整体水平，推动电子技术的发展。

四、标准的应用

SJ/T 11212-1999标准适用于石英晶体元件的生产、检测和应用。石英晶体元件生产厂家可以依据该标准进行产品的生产和质量控制，确保产品的性能和质量。检测机构可以依据该标准对石英晶体元件进行检测和评价，为石英晶体元件的应用提供科学依据。该标准还可以作为石英晶体元件设计和研究的重要参考，促进石英晶体元件技术的发展。