GB/T 14031-1992《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》

GB/T 14031-1992《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》基本信息

标准号：GB/T 14031-1992

中文名称：《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》

发布日期：1992-01-02    

实施日期：1993-08-01

发布部门：国家技术监督局    

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会    

起草单位：上海件五厂

中国标准分类号：L55微电路综合

国际标准分类号：31.200集成电路、微电子学

GB/T 14031-1992《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》介绍

GB/T 14031-1992《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》于1992年1月2日发布，并在1993年8月1日正式实施。

一、测试原理

标准详细阐述了模拟锁相环的工作原理和测试原理。模拟锁相环通过比较输入信号和本地振荡器产生的信号，调整本地振荡器的频率，使其与输入信号的频率和相位同步。测试原理包括对锁相环的捕获特性、锁定特性、噪声性能和稳定性等进行评估。

二、测试条件

为了确保测试结果的准确性，标准规定了测试条件，包括环境条件、电源电压、温度范围等。这些条件的设定旨在模拟实际工作环境下锁相环的性能，以便进行有效的性能评估。

三、测试设备

标准还详细描述了进行模拟锁相环测试所需的设备和仪器，包括信号源、频谱分析仪、示波器等。这些设备的选择和使用对于获取准确的测试数据至关重要。

四、测试步骤

GB/T 14031-1992规定了一系列详细的测试步骤，包括设备的设置、信号的输入、数据的采集和分析等。这些步骤旨在确保测试过程的标准化和系统化，从而提高测试结果的可靠性。

五、测试结果的评估

标准不仅提供了测试方法，还对如何评估测试结果给出了指导。这包括对锁相环的性能参数进行定量分析，以及对测试数据进行统计处理，以确保测试结果的准确性和有效性。

六、标准的重要性

GB/T 14031-1992的实施对于提高半导体集成电路模拟锁相环的性能和可靠性具有重要意义。为设计者、生产者和用户之间提供了一个共同的技术语言和评估标准，有助于推动技术的发展和产品质量的提升。