




SJ 20175-1992《半导体分立器件 3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管详细规范》基本信息
标准号:SJ 20175-1992
中文名称:《半导体分立器件 3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管详细规范》
发布日期:1992-11-19
实施日期:1993-05-01
发布部门:中国电子工业总公司
提出单位:中国电子工业总公司科技质量局
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:中国电子技术标准化研究所和国营九七零厂
起草人:王长福、长宗国、任继利、谢佩兰
中国标准分类号:D01技术管理
SJ 20175-1992《半导体分立器件 3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管详细规范》介绍
SJ 20175-1992《半导体分立器件 3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管详细规范》由中国电子工业总公司发布,自1993年5月1日起正式实施。
一、标准概述
本标准旨在规定3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输及储存等方面的详细要求,以确保产品的性能和质量。
二、技术要求
1、外观质量
晶体管的外观应清洁、无裂纹、无变形,引脚无弯曲、无断裂,表面不应有影响性能的缺陷。
2、电性能参数
晶体管的电性能参数包括直流电流增益、最大集电极电流、集电极-发射极击穿电压等,具体数值在标准中有明确规定。
3、频率特性
晶体管的频率特性应满足超高频应用的需求,包括截止频率、功率增益等参数。
4、温度特性
晶体管在规定的温度范围内应具有良好的温度稳定性,包括温度系数、热阻等参数。
三、测试方法
本标准对晶体管的测试方法进行了详细规定,包括外观检查、电性能测试、频率特性测试、温度特性测试等。测试应在规定的环境条件下进行,以确保测试结果的准确性。
四、检验规则
1、型式检验
型式检验是对晶体管进行的全面性能测试,以验证产品是否符合本标准的要求。
2、例行检验
例行检验是对晶体管进行的常规性能测试,以确保产品在生产过程中的一致性和稳定性。
3、抽样规则
抽样规则规定了抽样数量、抽样方法等,以确保检验结果的代表性和可靠性。
五、标志、包装、运输及储存
1、标志
晶体管应有清晰的型号、规格、生产批号等标志,以便于识别和追溯。
2、包装
晶体管的包装应符合规定的要求,以保护产品在运输和储存过程中不受损坏。
3、运输
晶体管在运输过程中应避免受到剧烈震动、高温、潮湿等不利因素的影响。
4、储存
晶体管应储存在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中,以保持其性能和质量。
SJ 20175-1992《半导体分立器件 3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管详细规范》的发布和实施,为3DG918型晶体管的生产、检验和应用提供了明确的技术依据,有助于提高产品的质量和可靠性,促进半导体分立器件行业的发展。
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