SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》-企来检

标准详情

SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》基本信息

标准号：SJ 20789-2000

中文名称：《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》

发布日期：2000-10-20

实施日期：2000-10-20

发布部门：中华人民共和国信息产业部

提出单位：中华人民共和国信息产业部

归口单位：中国电子技术标准化研究所

起草单位：杭州电源技术研究所

起草人：叶奇放、易本健、赵英等

中国标准分类号：L5961

SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》介绍

SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》是中国中华人民共和国信息产业部于2000年10月20日发布并实施的一项标准，旨在规范MOSFET热敏参数的快速筛选试验方法，提高电子设备的质量和可靠性。

一、标准制定背景

在电子设备的设计和制造过程中，MOSFET的热敏参数对其性能和可靠性有着重要影响。传统的热敏参数测试方法往往耗时较长，无法满足现代电子设备快速生产的需求。为了解决这一问题，信息产业部制定了SJ 20789-2000标准，旨在提供一种快速、准确的MOSFET热敏参数筛选试验方法，以提高电子设备的生产效率和质量。

二、标准主要内容

SJ 20789-2000标准主要规定了以下几个方面的内容包括：

1、适用范围：该标准适用于MOSFET的热敏参数快速筛选试验，以确保其在高温环境下的性能和可靠性。

2、术语和定义：标准对相关术语和定义进行了明确，如MOSFET、热敏参数、快速筛选试验等，以便在试验过程中避免歧义。

3、试验设备和仪器：标准规定了进行快速筛选试验所需的设备和仪器，包括温度控制设备、测量仪器等，以确保试验的准确性和可重复性。

4、试验条件：标准详细描述了试验过程中的温度控制、环境条件等要求，以确保试验结果的一致性和可靠性。

5、试验方法：标准规定了具体的试验步骤和方法，包括样品的准备、试验过程的控制、数据的记录和分析等，以指导试验人员进行规范操作。

6、结果评定：标准对试验结果的评定方法进行了规定，包括合格标准、不合格标准的判定等，以确保试验结果的公正性和准确性。

三、标准实施的意义

SJ 20789-2000标准的实施具有以下几个方面的意义：

1、提高电子设备质量：通过规范MOSFET热敏参数的快速筛选试验方法，可以确保电子设备在高温环境下的性能和可靠性，从而提高电子设备的整体质量。

2、提高生产效率：该标准的实施可以缩短MOSFET热敏参数测试的时间，提高电子设备的生产效率，降低生产成本。