《天线测试方法 天线测试场的设计》执行标准号是什么

“天线测试方法 天线测试场的设计”的标准号是：SJ 2534.2-1985

SJ 2534.2-1985《天线测试方法 天线测试场的设计》由中华人民共和国电子工业部于1985-01-05发布，并于1986-07-01实施。

该标准的起草单位为电子工业部39所；起草人是柯树人、王书惠。

“天线测试方法 天线测试场的设计”介绍

在天线测试方法方面，通常需要精确控制的环境来评估天线性能，包括增益、方向性、极化和带宽等关键参数。为了进行这些测试，天线测量技术如近场测试、远场测试和紧缩场测试等被采用。近场测试涉及在天线附近收集电磁场数据，并通过变换计算出天线的远场表现；远场测试则需要在远离天线的位置直接测量辐射特性；紧缩场测试利用特制的反射面将天线辐射聚焦于较小的区域内，模拟无限大距离下的远场条件。

至于天线测试场的设计，它必须考虑到各种可能的干扰因素，如多径效应、环境噪声和其他非理想的信号反射，以保证测量结果的准确性。测试场一般需要宽广的空地和特定的设施，比如用于吸收反射波的微波暗室或具有特定形状的反射器。设计时还需特别注意测试设备的校准和定位系统，确保天线可以在控制的环境下精确测量。通过这种精心设计的天线测试环境，工程师可以获取可靠的数据以优化天线设计与性能。