SJ 50033/121-1997《半导体分立器件CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范》

SJ 50033/121-1997《半导体分立器件CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范》基本信息

标准号：SJ 50033/121-1997

中文名称：《半导体分立器件CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范》

发布日期：1997-06-17    

实施日期：1997-10-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

提出单位：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：第七四六厂

中国标准分类号：L5961

SJ 50033/121-1997《半导体分立器件CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范》介绍

《SJ 50033/121-1997》是由中华人民共和国电子工业部发布的一项行业标准，旨在规范CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管（JFET）的生产和质量控制。该标准于1997年6月17日发布，并于同年10月1日正式实施。

一、标准内容

1、适用范围

该标准详细规定了CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管的技术要求、测试方法、检验规则、包装、标志和存储条件。这些规定适用于这些型号的晶体管的生产、检验和交付。

2、技术要求

标准中对晶体管的技术要求进行了明确规定，包括但不限于：

电气特性：如最大漏电流、最大正向跨导、最大输入电容等。

温度特性：在不同温度下的性能指标。

机械特性：如引脚强度、封装尺寸等。

3、测试方法

标准详细描述了测试方法，确保所有技术要求都能得到准确评估。这包括：

电气测试：使用特定的测试设备和程序来测量晶体管的电气特性。

温度测试：在不同温度条件下对晶体管进行测试，以评估其温度稳定性。

4、检验规则

该标准规定了检验规则，包括：

抽样检验：如何从生产批次中抽取样本进行测试。

合格判定：根据测试结果如何判定产品是否符合标准。

5、包装、标志和存储

标准还对产品的包装、标志和存储条件提出了要求，以确保产品在运输和存储过程中的完整性和性能。

二、标准的意义

1、质量保证

通过明确规定技术要求和测试方法，该标准为半导体分立器件的生产提供了质量保证，有助于提高产品的可靠性和一致性。

2、行业协调

该标准的实施有助于行业内不同生产者之间的协调，确保不同来源的产品能够满足相同的性能标准，从而促进了市场的健康发展。

3、国际贸易

对于国际贸易而言，遵循国际认可的标准有助于减少技术壁垒，促进产品的国际流通。

《SJ 50033/121-1997》作为一项重要的行业标准，对于指导CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管的生产和质量控制具有重要意义。