SJ 20642/6-1998《半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》

SJ 20642/6-1998《半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》基本信息

标准号：SJ 20642/6-1998

中文名称：《半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》

发布日期：1998-03-11    

实施日期：1998-05-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：电子工业部第四十四研究所

起草人：顾振球、常利民、朱晓东、魏爱新    

中国标准分类号：L5980

SJ 20642/6-1998《半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》介绍

SJ 20642/6-1998《半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》是由中华人民共和国电子工业部发布的一项重要标准，自1998年5月1日起正式实施。

一、标准适用范围

SJ 20642/6-1998标准适用于GH83型光耦合器，这是一种以半导体器件为基本元件的光电转换器件，广泛应用于电子设备中。该标准规定了GH83型光耦合器的技术要求、试验方法和检验规则等方面的内容，以确保光耦合器的质量和性能。

二、技术要求

1、外观要求：GH83型光耦合器的外观应整洁、无损伤，电极接触良好，引脚无弯曲或断裂。

2、电气特性：标准对光耦合器的电气特性提出了具体要求，包括正向电流、反向电流、正向电压、反向电压等参数。

3、光学特性：光耦合器的光学特性包括发光二极管的发光强度、光敏三极管的光电流等参数。

4、可靠性：标准要求光耦合器在规定的环境条件下具有良好的可靠性，包括温度循环、湿热试验、寿命试验等。

三、试验方法

1、外观检查：对光耦合器的外观进行检查，确保其符合标准要求。

2、电气特性测试：通过专业的测试设备对光耦合器的电气参数进行测试，以确保其性能稳定。

3、光学特性测试：使用光学测试仪器对光耦合器的光学参数进行测量，以评估其光电转换效果。

4、可靠性试验：对光耦合器进行温度循环、湿热试验等可靠性测试，以评估其在恶劣环境下的性能。

四、检验规则

1、检验分类：标准将检验分为出厂检验和型式检验两类，以确保光耦合器在生产和使用过程中的质量。

2、抽样方法：对光耦合器进行抽样检验，以评估其整体质量。

3、合格判定：根据试验结果，对光耦合器进行合格判定，确保其符合标准要求。

五、包装、运输和贮存

1、包装：光耦合器应采用适当的包装材料进行包装，以防止在运输过程中受到损坏。

2、运输：在运输过程中，应采取适当的措施保护光耦合器，避免受到振动、冲击等影响。

3、贮存：光耦合器应存放在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中，以保证其性能稳定。

SJ 20642/6-1998《半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范》为GH83型光耦合器的生产和应用提供了全面的技术指导和规范要求。