




“晶片正面系列字母数字标志规范”的标准号是:YS/T 986-2014
YS/T 986-2014《晶片正面系列字母数字标志规范》由中华人民共和国工业和信息化部于2014-10-14发布,并于2015-04-01实施。
该标准的起草单位为有研半导体材料股份有限公司、杭州海纳半导体有限公司、万向硅峰电子股份有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司;起草人是张静、边永智、孙燕、鲁进军、楼春兰、王飞尧、何良恩、张海英。
“晶片正面系列字母数字标志规范”介绍
晶片正面系列字母数字标志规范是半导体行业中用于确保一致性和追溯性的重要标准。这一规范通常涉及晶片表面标记的布局、大小、字体以及内容的标准化,以便于制造、测试和封装过程中的识别和分类。例如,常见的标记可能包括制造批号、生产日期、晶片型号以及制造商的标识等。这些信息使得在生产过程中能够迅速定位到任何特定的晶圆或晶粒,同时有助于后期的故障分析和质量保证。
遵循晶片正面系列字母与数字标志规范对于提高自动化水平至关重要。现代晶圆厂采用高度自动化的设备进行晶片处理和检测,因此清晰和一致的标记有助于机器视觉系统精确地识别每个晶圆和晶粒。这种自动化不仅提升了产能,也降低了人为错误的可能性,进一步保证了产品质量和生产效率。
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