GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定X 射线小角散射法》

GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定X 射线小角散射法》基本信息

标准号：GB/T 13221-2004

中文名称：《纳米粉末粒度分布的测定X 射线小角散射法》

发布日期：2004-09-29    

实施日期：2005-04-01

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会    

提出单位：中国有色金属工业协会    

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会    

起草单位：钢铁研究总院

起草人：张晋远、郑毅、柳春兰、方建峰、朱瑞珍、金成海、张宪铭    

中国标准分类号：N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器

国际标准分类号：19.120粒度分析、筛分

GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定X 射线小角散射法》介绍

在纳米科技领域，纳米粉末的粒度分布对其性能有着至关重要的影响。GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定X 射线小角散射法》正是为了规范纳米粉末粒度分布的测定方法，确保产品质量和科学研究的准确性。

一、标准概述

1、标准名称与编号

标准全称为GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定X 射线小角散射法》，其中“GB/T”表示推荐性国家标准，“13221”为标准编号。

2、发布与实施

该标准由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局和中国国家标准化管理委员会联合发布，发布日期为2004年9月29日，并于2005年4月1日正式实施。

二、标准内容详解

1、适用范围

标准规定了使用X射线小角散射法测定纳米粉末粒度分布的方法，适用于各种纳米粉末材料，包括金属、氧化物、陶瓷等。

2、术语和定义

标准中定义了与X射线小角散射法相关的专业术语，如“小角散射”、“粒度分布”、“散射强度”等，为后续的测定方法提供了明确的定义基础。

3、仪器设备

标准详细列出了进行X射线小角散射测定所需的仪器设备，包括X射线发生器、散射仪、样品制备装置等，并对其性能参数提出了具体要求。

4、样品准备

样品的准备是测定过程中的关键步骤。标准规定了样品的制备、处理和保存方法，确保样品的代表性和稳定性。

5、测定方法

标准详细描述了X射线小角散射法的操作步骤，包括样品的放置、散射数据的采集、数据处理和分析等，为实验操作提供了明确的指导。

6、结果表示

标准规定了粒度分布结果的表示方法，包括粒径分布图、平均粒径、标准偏差等参数的计算和表示，以便于结果的比较和分析。

7、精密度和偏差

标准还对测定结果的精密度和偏差进行了规定，以确保测定结果的可靠性和可重复性。

三、标准的应用价值

1、产品质量控制

通过标准规定的测定方法，可以有效控制纳米粉末产品的粒度分布，提高产品质量。

2、科学研究

在纳米科学研究中，准确的粒度分布数据对于材料性能的研究至关重要，标准为科研人员提供了可靠的测定方法。

3、行业标准化

标准为纳米粉末粒度分布的测定提供了统一的方法和标准，有助于行业的标准化和规范化发展。

GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定X 射线小角散射法》作为一项重要的国家标准，对于规范纳米粉末粒度分布的测定、提高产品质量、促进科学研究和行业发展具有重要的指导意义。