SJ 50033.48-1994《半导体分立器件 ２ＤＶ８ＣＰ型硅微波检波二极管详细规范》

SJ 50033.48-1994《半导体分立器件  ２ＤＶ８ＣＰ型硅微波检波二极管详细规范》基本信息

标准号：SJ 50033.48-1994

中文名称：《半导体分立器件  ２ＤＶ８ＣＰ型硅微波检波二极管详细规范》

发布日期：1994-09-30    

实施日期：1994-12-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：国营九七0厂和中国电子技术标准化研究所

起草人：沈继昌、程红、金贵永    

中国标准分类号：L01技术管理

SJ 50033.48-1994《半导体分立器件  ２ＤＶ８ＣＰ型硅微波检波二极管详细规范》介绍

SJ 50033.48-1994《半导体分立器件 2DV8CP型硅微波检波二极管详细规范》标准由中华人民共和国电子工业部发布，并于1994年12月1日正式实施。

一、标准概述

SJ 50033.48-1994标准是针对2DV8CP型硅微波检波二极管的详细规范，它规定了该类型二极管的技术要求、测试方法、检验规则以及标志、包装、运输和储存等方面的要求。这一标准为半导体分立器件的生产和应用提供了明确的指导，确保了产品的一致性和可靠性。

二、技术要求

1、性能参数

标准详细规定了2DV8CP型硅微波检波二极管的性能参数，包括但不限于最大整流电流、反向电压、电容、频率特性等关键指标。这些参数的设定确保了二极管在微波频段的高效检波性能。

2、外观和结构

除了性能参数，标准还对二极管的外观和结构提出了要求。这包括二极管的尺寸、形状、标记和焊接点等，以确保产品的外观一致性和结构稳定性。

三、测试方法

1、性能测试

标准规定了对2DV8CP型硅微波检波二极管进行性能测试的具体方法，包括电流-电压特性测试、电容测试和频率响应测试等。这些测试方法为评估二极管的性能提供了科学依据。

2、外观和结构检查

对于外观和结构的检查，标准提供了详细的检查流程和标准，确保每一件产品都能达到规定的质量要求。

四、检验规则

1、抽样检验

标准规定了对2DV8CP型硅微波检波二极管进行抽样检验的规则，包括抽样比例、检验项目和判定标准。这些规则有助于确保批量生产的产品质量。

2、合格判定

对于检验结果的判定，标准提供了明确的合格标准。只有当产品满足所有规定的性能和外观要求时，才能被判定为合格产品。

五、标志、包装、运输和储存

1、标志

标准规定了产品上必须标注的信息，包括型号、批号、生产日期等，以便于产品的追溯和管理。

2、包装

对于产品的包装，标准提出了保护产品免受损坏的要求，包括包装材料的选择和包装方式。

3、运输

在运输过程中，标准要求采取适当的措施保护产品，避免因运输过程中的震动、温度变化等因素影响产品性能。

4、储存

标准还对产品的储存条件提出了要求，包括温度、湿度等环境因素的控制，以确保产品在储存期间的性能稳定。

SJ 50033.48-1994标准的实施，为2DV8CP型硅微波检波二极管的生产和应用提供了重要的技术依据。