GB/T 23413-2009《纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法》

GB/T 23413-2009《纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法》基本信息

标准号：GB/T 23413-2009

中文名称：《纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法》

发布日期：2009-04-01    

实施日期：2009-12-01

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局  中国国家标准化管理委员会    

提出单位：全国微束标准化技术委员会    

归口单位：全国微束标准化技术委员会    

起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院

起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍    

中国标准分类号：N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器

国际标准分类号：19.100无损检测

GB/T 23413-2009《纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法》介绍

GB/T 23413-2009是由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局和中国国家标准化管理委员会联合发布的国家级推荐性标准。该标准于2009年4月1日发布，并从2009年12月1日起正式实施。

一、标准内容详解

1、适用范围

本标准适用于纳米材料晶粒尺寸和微观应变的测定，特别是当材料的晶粒尺寸在纳米级别时，传统的测量方法可能无法准确测量。X射线衍射线宽化法作为一种非破坏性检测技术，能够提供精确的测量结果。

2、术语和定义

标准中对“晶粒尺寸”、“微观应变”、“X射线衍射线宽化法”等关键术语进行了明确的定义，以确保使用者对测量方法有清晰的理解。

3、原理

X射线衍射线宽化法基于布拉格定律，通过测量X射线在晶体中的衍射峰的宽度，来确定材料的晶粒尺寸和微观应变。该方法利用X射线与材料晶体结构的相互作用，通过分析衍射峰的宽度变化来获取晶粒尺寸和应变信息。

4、仪器设备

标准详细列出了进行X射线衍射线宽化法测定所需的仪器设备，包括X射线衍射仪、样品制备设备等，并对其性能要求进行了规定。

5、样品制备

样品的制备对测试结果的准确性至关重要。标准规定了样品的制备方法，包括样品的尺寸、形状、表面处理等要求。

6、测定方法

标准详细描述了X射线衍射线宽化法的测定步骤，包括样品的放置、X射线的照射、衍射峰的采集和分析等。

7、结果计算

对于测定结果的计算，标准提供了详细的公式和计算方法，以确保结果的准确性。

8、报告

标准还规定了测试报告的内容和格式，包括样品信息、测试条件、测试结果等。

二、标准的意义

GB/T 23413-2009标准的实施，为纳米材料的晶粒尺寸和微观应变的测定提供了标准化的方法和流程。这不仅有助于提高测量结果的准确性和可重复性，而且对于推动纳米材料的研究和应用具有重要意义。