YS/T 362-2006《纯钯中杂质素的发射光谱分析》

YS/T 362-2006《纯钯中杂质素的发射光谱分析》基本信息

标准号：YS/T 362-2006

中文名称：《纯钯中杂质素的发射光谱分析》

发布日期：2006-05-25    

实施日期：2006-12-01

发布部门：中华人民共和国国家发展和改革委员会    

提出单位：全国有色金属标准化技术委员会    

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会    

起草单位：贵研铂业股份公司

起草人：方卫、徐光、杨玉芳    

中国标准分类号：H15贵金属及其合金分析方法

国际标准分类号：77.040.30金属材料化学分析

YS/T 362-2006《纯钯中杂质素的发射光谱分析》介绍

中华人民共和国国家发展和改革委员会于2006年5月25日发布了YS/T 362-2006《纯钯中杂质元素的发射光谱分析》标准，并于同年12月1日起正式实施。

一、标准概述

YS/T 362-2006标准规定了纯钯中杂质元素的发射光谱分析方法，包括样品的制备、分析步骤、结果的计算和表述等。该标准适用于纯度高于99.95%的纯钯材料中杂质元素的定性和定量分析。

二、样品制备

标准中对样品的制备提出了具体要求。需要将纯钯样品进行研磨，使其达到一定的粒度要求。然后，将样品与一定量的助熔剂混合，放入石英坩埚中进行熔融。熔融后，将样品冷却并取出，进行下一步的分析。

三、分析方法

YS/T 362-2006标准采用了发射光谱分析法对纯钯中的杂质元素进行分析。具体步骤如下：

1、样品激发：将熔融后的样品放入光谱仪的激发源中，通过高电流激发样品产生光谱。

2、光谱记录：利用光谱仪记录下样品产生的光谱，得到光谱图。

3、定性分析：根据光谱图中的特征谱线，对杂质元素进行定性分析。

4、定量分析：通过比较特征谱线的强度与标准样品的谱线强度，对杂质元素的含量进行定量分析。

四、结果计算与表述

标准中对分析结果的计算和表述也提出了明确要求。需要对定量分析结果进行校正，以消除可能的干扰和误差。然后，将分析结果以表格或图形的形式进行表述，包括杂质元素的种类、含量范围等信息。

五、标准的意义

YS/T 362-2006标准的制定和实施，对于提高纯钯材料的质量和性能具有重要意义。通过规范分析方法，可以确保纯钯材料中杂质元素的含量得到准确测定，从而为材料的选择和应用提供科学依据。该标准还有助于推动相关领域的技术进步和产业升级。