《电子元器件故障树分析方法与程序》执行标准号是什么

“电子元器件故障树分析方法与程序”的标准号是：T/CIE 116-2021

T/CIE 116-2021《电子元器件故障树分析方法与程序》由中国电子学会于2021-11-22发布，并于2022-02-01实施。

该标准的起草单位为工业和信息化部电子第五研究所；起草人是何小琦、陈媛、恩云飞、来萍、宋芳芳、王蕴辉、支越、路国光、任艳。

“电子元器件故障树分析方法与程序”介绍

电子元器件故障树分析方法是一种系统化的故障诊断技术，它通过构建一个逻辑图来描述导致系统或设备失效的各种可能的原因。该方法通常开始于最不希望发生的事件（即顶事件）并逆向工作，识别可能导致该事件的直接原因，再逐一探索这些直接原因背后的更深层次因素。这种自上而下、逐层分解的分析方式能够详尽地识别和评估所有潜在的故障模式及其成因，进而确定关键的失效路径。

在程序上，电子元器件故障树分析方法包括定义顶事件、收集故障数据、构造故障树、定性与定量分析等步骤。需要明确分析的目标，即选择顶事件，这是整个分析过程的起点。然后，根据历史数据和经验知识收集相关的故障模式和影响信息。接着，将这些信息用逻辑门符号连接起来构建出完整的故障树。之后进行定性分析，确定故障树的最小割集，从而找出系统中的关键部件和薄弱环节。进行定量分析以计算事件发生的概率，为改进设计、优化维护策略提供科学依据。这一分析方法对于提高元器件的可靠性与安全性具有重要意义。