GB/T 17574.11-2006《半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范》

GB/T 17574.11-2006《半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范》基本信息

标准号：GB/T 17574.11-2006

中文名称：《半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范》

发布日期：2006-12-05

实施日期：2007-05-01

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会

提出单位：信息产业部

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位：中国电子科技集团公司第四十七研究所

起草人：施华莎

中国标准分类号：L56半导体集成电路

国际标准分类号：31.200集成电路、微电子学

GB/T 17574.11-2006《半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范》介绍

GB/T 17574.11-2006是由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局和中国国家标准化管理委员会共同发布的国家标准。标准于2006年12月5日发布，并于2007年5月1日正式实施。

一、标准适用范围

GB/T 17574.11-2006标准适用于单电源集成电路电可擦可编程只读存储器（EEPROM）的设计、生产、检测和应用。该标准涵盖了EEPROM的基本性能要求、测试方法、质量保证等方面的内容，为EEPROM的生产和应用提供了技术依据。

二、标准主要内容

1、术语和定义：标准首先对EEPROM相关的术语和定义进行了明确，如存储单元、编程、擦除等，为后续的技术要求和测试方法奠定基础。

2、产品特性：标准规定了EEPROM的基本特性，包括存储容量、工作电压、工作温度范围等，以满足不同应用场景的需求。

3、性能要求：标准详细列出了EEPROM的性能要求，如数据保持能力、编程时间、擦除时间、读写周期等，确保产品能够满足设计要求。

4、测试方法：标准提供了EEPROM性能测试的具体方法，包括测试条件、测试设备、测试步骤等，以保证测试结果的准确性和可重复性。

5、质量保证：标准对EEPROM的生产过程、质量控制、检验规则等提出了要求，以确保产品的质量和可靠性。

6、标志、包装、运输和储存：标准对EEPROM的标志、包装、运输和储存等环节进行了规定，以保证产品在流通过程中的安全和完整。

三、标准的意义

GB/T 17574.11-2006标准的发布和实施，对于促进我国集成电路产业的技术进步和产品质量提升具有重要作用。通过规范EEPROM的生产和应用，可以提高产品的可靠性和稳定性，满足电子设备对高性能存储器的需求，推动集成电路产业的健康发展。