SJ 20308-1993《半导体分立器件 ＦＨ１０２５型ＮＰＮ硅功率达林顿晶体管详细规范》

SJ 20308-1993《半导体分立器件  ＦＨ１０２５型ＮＰＮ硅功率达林顿晶体管详细规范》基本信息

标准号：SJ 20308-1993

中文名称：《半导体分立器件  ＦＨ１０２５型ＮＰＮ硅功率达林顿晶体管详细规范》

发布日期：1993-05-11

实施日期：1993-07-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部

归口单位：中国电子工业总公司

起草单位：八七七厂和中国电子技术标准化研究所

起草人：张滨、蔡仁明

中国标准分类号：E01技术管理

SJ 20308-1993《半导体分立器件  ＦＨ１０２５型ＮＰＮ硅功率达林顿晶体管详细规范》介绍

SJ 20308-1993《半导体分立器件 ＦＨ１０２５型ＮＰＮ硅功率达林顿晶体管详细规范》是由中华人民共和国电子工业部发布的一项国家标准。

一、标准适用范围

SJ 20308-1993标准适用于FH1025型NPN硅功率达林顿晶体管的生产和检验。这种晶体管广泛应用于电子设备中，如电源、放大器、开关等，具有较高的功率和稳定性。标准对晶体管的性能指标、测试方法、检验规则等方面进行了明确规定，以确保产品符合要求。

二、技术要求

1、电气特性

标准对FH1025型NPN硅功率达林顿晶体管的电气特性进行了详细规定，包括直流电流增益、集电极-发射极击穿电压、集电极最大电流、集电极最大功耗等。这些指标是衡量晶体管性能的重要参数，对于保证电子设备的正常运行至关重要。

2、机械和热特性

标准还规定了晶体管的机械和热特性，如封装形式、引线尺寸、引线拉力、工作温度范围等。这些特性对于晶体管的安装、散热和可靠性具有重要意义。

3、外观质量

标准对晶体管的外观质量也提出了要求，如无裂纹、无损伤、标记清晰等。良好的外观质量有助于提高产品的可靠性和使用寿命。

三、测试方法

1、电气特性测试

电气特性测试主要包括直流电流增益、集电极-发射极击穿电压、集电极最大电流、集电极最大功耗等指标的测量。测试过程中需要使用专业的测试设备和仪器，确保测试结果的准确性和可靠性。

2、机械和热特性测试

机械和热特性测试主要包括封装形式、引线尺寸、引线拉力、工作温度范围等指标的测量。这些测试有助于评估晶体管的机械强度和散热性能。

3、外观质量检查

外观质量检查主要通过目测或使用放大镜等工具进行，检查晶体管表面是否有裂纹、损伤、标记不清晰等问题。

四、检验规则

1.、抽样

标准规定了抽样的数量和方法，以确保检验结果的代表性和准确性。

2、判定

检验结果的判定标准包括合格品和不合格品的判定条件，以及不合格品的处理方法。

3、复验

对于检验结果存在争议的情况，标准规定了复验的方法和程序，以确保检验结果的公正性和准确性。