SN/T 1650-2005《金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》

SN/T 1650-2005《金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》基本信息

标准号：SN/T 1650-2005

中文名称：《金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》

发布日期：2005-09-30

实施日期：2006-05-01

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

提出单位：国家认证认可监督管理标准化委员会

归口单位：国家认证认可监督管理标准化委员会

起草单位：中华人民共和国辽宁出入境检验检疫局

起草人：黄大亮、欧阳昌俊、胡晓静、赵恒英

中国标准分类号：H17半金属及半导体材料分析方法

国际标准分类号：77.040.01金属材料试验综合

SN/T 1650-2005《金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》介绍

SN/T 1650-2005《金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》是由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布的，该标准于2005年9月30日发布，并于2006年5月1日起正式实施。

一、标准适用范围

本标准适用于金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒等元素的含量测定。通过采用电感耦合等离子体原子发射光谱法，能够对金属硅样品中的这些元素进行准确、快速的分析。

二、标准主要内容

1、方法原理

电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）是一种基于等离子体产生的原子发射光谱进行元素分析的方法。在该方法中，样品被引入到高温等离子体中，原子化并激发产生特征光谱。通过测量特定元素的特征光谱强度，可以定量分析样品中元素的含量。

2、仪器设备

标准规定了进行ICP-AES分析所需的仪器设备，包括电感耦合等离子体原子发射光谱仪、样品制备设备、标准溶液等。

3、样品制备

样品制备是确保分析结果准确性的关键步骤。标准详细规定了金属硅样品的取样、称量、溶解、稀释等操作步骤，确保样品的代表性和分析结果的可靠性。

4、分析步骤

标准详细描述了ICP-AES分析的具体步骤，包括仪器的校准、样品的引入、背景校正、定量分析等。通过这些步骤，可以实现对金属硅中元素含量的准确测定。

5、结果计算与报告

标准规定了如何根据测量得到的光谱强度计算元素含量，并提供了结果报告的格式要求。

三、标准的意义

SN/T 1650-2005标准的制定和实施，对于提高金属硅产品质量、规范行业标准、保障消费者权益具有重要意义。通过采用电感耦合等离子体原子发射光谱法，可以实现对金属硅中多种元素含量的快速、准确测定，为金属硅的生产、加工和应用提供了科学的依据。