JB/T 10034-2012《光栅角位移测量系统》

JB/T 10034-2012《光栅角位移测量系统》基本信息

标准号：JB/T 10034-2012

中文名称：《光栅角位移测量系统》

发布日期：2012-05-24

实施日期：2012-11-01

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部

归口单位：全国量具量仪标委会

起草单位：四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所、长春禹衡光学有限公司等

中国标准分类号：J42量具与量仪

国际标准分类号：17.040.30测量仪器仪表

JB/T 10034-2012《光栅角位移测量系统》介绍

JB/T 10034-2012《光栅角位移测量系统》是由中华人民共和国工业和信息化部发布的国家标准，该标准自2012年11月1日起正式实施。

一、适用范围

JB/T 10034-2012《光栅角位移测量系统》标准适用于各种类型的光栅角位移测量系统，包括单轴和多轴测量系统。该标准规定了光栅角位移测量系统的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等方面的具体内容。

二、技术要求

1、测量原理：光栅角位移测量系统应采用光栅测量原理，通过测量光栅的角位移来实现对被测物体的测量。

2、测量范围：光栅角位移测量系统的测量范围应满足不同应用场景的需求，具体范围应在产品说明书或技术文件中明确。

3、分辨率：光栅角位移测量系统的分辨率应满足高精度测量的要求，具体分辨率应在产品说明书或技术文件中明确。

4、精度：光栅角位移测量系统的精度应满足相关行业标准的要求，具体精度应在产品说明书或技术文件中明确。

5、重复性：光栅角位移测量系统的重复性应满足高精度测量的要求，具体重复性应在产品说明书或技术文件中明确。

6、稳定性：光栅角位移测量系统在规定的环境条件下应具有良好的稳定性，具体稳定性要求应在产品说明书或技术文件中明确。

7、安全性：光栅角位移测量系统应符合国家相关安全标准的要求，确保使用过程中的安全。

三、试验方法

1、测量原理试验：通过模拟光栅角位移测量原理，验证光栅角位移测量系统的测量原理是否正确。

2、测量范围试验：通过测量不同大小的物体，验证光栅角位移测量系统的测量范围是否满足要求。

3、分辨率试验：通过测量微小的角位移变化，验证光栅角位移测量系统的分辨率是否满足要求。

4、精度试验：通过与已知标准器进行比较，验证光栅角位移测量系统的精度是否满足要求。

5、重复性试验：通过多次测量同一物体，验证光栅角位移测量系统的重复性是否满足要求。

6、稳定性试验：在规定的环境条件下，对光栅角位移测量系统进行长时间运行，验证其稳定性是否满足要求。

四、检验规则

1、型式检验：光栅角位移测量系统应按照JB/T 10034-2012标准的要求进行型式检验，以确保产品性能符合标准要求。

2、出厂检验：光栅角位移测量系统在出厂前应进行出厂检验，以确保产品性能符合标准要求。

3、验收检验：用户在购买光栅角位移测量系统后，应按照JB/T 10034-2012标准的要求进行验收检验，以确保产品性能符合标准要求。

五、标志、包装、运输和贮存

1、标志：光栅角位移测量系统应有清晰的产品型号、规格、生产日期等信息的标志。

2、包装：光栅角位移测量系统应采用适当的包装方式，以保护产品在运输过程中不受损坏。

3、运输：光栅角位移测量系统在运输过程中应遵循相关运输规定，确保产品安全到达目的地。

4、贮存：光栅角位移测量系统应按照产品说明书或技术文件的要求进行贮存，以保证产品性能的稳定性。

JB/T 10034-2012《光栅角位移测量系统》标准为光栅角位移测量领域提供了统一的技术要求和规范，有利于提高产品质量，保障用户利益，促进光栅角位移测量技术的发展。