“半导体点温计检定规程”的标准号是:JJG 363-1984
JJG 363-1984《半导体点温计检定规程》由国家计量局于1984-12-07发布,并于1985-12-01实施。
该标准的起草单位为广东省计量科学研究所;起草人是沈正宇 。
“半导体点温计检定规程”介绍
半导体点温计是一种用于测量物体表面温度的仪器,它通过检测半导体元件的电压或电阻变化来实现温度的准确读值。为了确保这种仪器的准确性和一致性,通常需要对其进行检定,以符合国家或国际的标准。半导体点温计的检定规程是一系列标准化的操作流程,用于评估和确认这些温度计的性能是否符合预定的要求。
在半导体点温计的检定过程中,首先会使用已知精确温度值的标准温度源来对比待检定的温度计。这个标准温度源能够提供一个非常稳定和准确的参考温度点,从而确保检定的可靠性。检定过程还会涉及到对温计在不同温度下的响应进行测试,以评估其在全量程范围内的线性度和重复性等性能指标。
在进行半导体点温计的检定时,除了关注其准确性以外,还需要考虑环境因素如温度、湿度以及可能的电磁干扰等,这些都可能影响检定结果。因此,检定操作应在控制的环境下执行,并遵循严格的程序来避免误差。检定规程还包括了对点温计使用前后状态的检查,以及对设备的日常维护和校准周期的建议,以确保其长期的稳定运行。通过这一系列的检定步骤,可以保证半导体点温计在其服务期间能提供可靠和精确的温度测量结果。
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