SJ/T 2658.9-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角》

SJ/T 2658.9-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角》基本信息

标准号：SJ/T 2658.9-2015

中文名称：《半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角》

发布日期：2015-10-10    

实施日期：2016-04-01

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部    

SJ/T 2658.9-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角》介绍

SJ/T 2658.9-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角》是由中华人民共和国工业和信息化部发布的国家级标准，该标准自2015年10月10日发布，并于2016年4月1日起正式实施。

一、标准主要内容

1、术语和定义

标准首先明确了相关术语和定义，如半导体红外发射二极管、辐射强度、空间分布、半强度角等，为后续的测量方法提供了基础。

2、测量原理

标准详细阐述了测量SLEDs辐射强度空间分布和半强度角的原理，包括光度学原理、几何光学原理等，为测量提供了理论依据。

3、测量条件

标准规定了测量SLEDs所需的环境条件，如温度、湿度等，以确保测量结果的准确性和可靠性。

4、测量设备

标准列举了测量SLEDs所需的设备，如积分球、辐射计、光谱仪等，并对其性能和精度提出了要求。

5、测量步骤

标准详细描述了测量SLEDs辐射强度空间分布和半强度角的步骤，包括样品的安装、测量角度的选择、数据采集和处理等，为实际操作提供了明确的指导。

6、数据处理和结果表达

标准规定了测量数据的处理方法和结果的表达方式，如辐射强度的计算、半强度角的确定等，确保结果的科学性和准确性。

二、标准意义

1、提高测量准确性

通过统一的测量方法，可以减少测量误差，提高测量结果的准确性和可靠性。

2、促进技术交流

标准为行业内的技术交流提供了共同的语言和规范，有利于技术的传播和创新。

3、保障产品质量

通过规范的测量方法，可以更好地评估和控制SLEDs的性能，保障产品的质量和稳定性。

4、推动产业发展

标准的制定和实施，有助于提高整个行业的技术水平和竞争力，推动半导体红外发射二极管产业的健康发展。

SJ/T 2658.9-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角》的发布和实施，为半导体红外发射二极管的测量提供了科学的指导和规范。