




SJ 20072-1992《半导体分立器件 GH24、GH25和GH26型半导体光耦合器详细规范》基本信息
标准号:SJ 20072-1992
中文名称:《半导体分立器件 GH24、GH25和GH26型半导体光耦合器详细规范》
发布日期:1992-11-19
实施日期:1993-05-01
发布部门:中国电子工业总公司
提出单位:中国电子工业总公司科技质量局
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:苏州半导体总厂
起草人:周慈平、朱治中 、严娟娟、胡泓波、王秀英
中国标准分类号:B01技术管理
SJ 20072-1992《半导体分立器件 GH24、GH25和GH26型半导体光耦合器详细规范》介绍
中国电子工业总公司于1992年发布了《半导体分立器件 GH24、GH25和GH26型半导体光耦合器详细规范》(以下简称"SJ 20072-1992")标准。
一、标准概述
SJ 20072-1992标准是中国电子工业总公司发布的关于半导体光耦合器的详细规范,主要针对GH24、GH25和GH26三种型号的半导体光耦合器。该标准规定了半导体光耦合器的分类、技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等方面的内容。
二、技术要求
1、型号命名
标准规定了半导体光耦合器的型号命名规则,包括GH24、GH25和GH26三种型号,每种型号的命名规则都遵循特定的格式,以便于识别和分类。
2、外观质量
半导体光耦合器的外观质量要求包括无裂纹、无损伤、无明显变形等,以保证器件的完整性和可靠性。
3、电性能参数
标准对半导体光耦合器的电性能参数进行了详细规定,包括正向电流、反向电流、正向电压、反向电压、输入端电容、输出端电容、传输速率等,以确保器件的性能满足设计要求。
5、环境适应性
半导体光耦合器需要在各种环境条件下稳定工作,因此标准对器件的温度范围、湿度范围、振动、冲击等环境适应性进行了规定,以保证器件的可靠性和稳定性。
三、测试方法
SJ 20072-1992标准对半导体光耦合器的测试方法进行了详细规定,包括电性能参数测试、环境适应性测试、外观质量检查等。
四、检验规则
标准对半导体光耦合器的检验规则进行了规定,包括出厂检验、型式检验和周期检验等。检验规则的制定有助于及时发现和解决生产过程中的问题,提高产品质量。
五、标志、包装、运输和贮存
SJ 20072-1992标准还对半导体光耦合器的标志、包装、运输和贮存进行了规定。这些规定有助于保护器件在生产、运输和贮存过程中不受损害,确保器件的完整性和可靠性。
SJ 20072-1992《半导体分立器件 GH24、GH25和GH26型半导体光耦合器详细规范》的发布,为半导体光耦合器的设计、生产和应用提供了统一的技术标准,有助于提高半导体光耦合器的质量和性能,促进电子技术的发展。
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