SJ 2684-1986《半导体发光(可见光)器件外形尺寸》

SJ 2684-1986《半导体发光(可见光)器件外形尺寸》基本信息

标准号：SJ 2684-1986

中文名称：《半导体发光(可见光)器件外形尺寸》

发布日期：1986-02-18    

实施日期：1986-10-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

中国标准分类号：F01技术管理

SJ 2684-1986《半导体发光(可见光)器件外形尺寸》介绍

《半导体发光（可见光）器件外形尺寸》标准（SJ 2684-1986）由中华人民共和国电子工业部发布，并于1986年10月1日起正式实施。

一、标准概述

《SJ 2684-1986半导体发光（可见光）器件外形尺寸》标准详细规定了半导体发光器件的外形尺寸要求，包括但不限于器件的尺寸范围、公差、标记方法等。这一标准的制定。

二、标准内容详解

1、器件尺寸

标准详细列出了不同类型半导体发光器件的外形尺寸，包括但不限于直径、高度、引脚长度等。这些尺寸的设定基于器件的功能需求和生产工艺，确保器件能够在不同的应用场景中稳定工作。

2、公差范围

为了确保器件的一致性和可靠性，标准对外形尺寸的公差范围进行了严格的规定。这些公差范围的设定考虑了材料特性、加工精度和使用环境等因素，以保证器件在不同生产批次间的一致性。

3、标记方法

标准还对半导体发光器件的标记方法进行了规定，包括器件型号、尺寸、生产日期等信息的标识方式。这些标记信息有助于用户识别器件的型号和规格，便于在采购、库存管理和维修过程中的快速识别。

4、检验方法

为了保证标准的有效实施，标准还提供了器件外形尺寸的检验方法。这些方法涵盖了尺寸测量、公差检查和标记信息的验证等方面，确保每个生产环节都能够按照标准要求进行严格的质量控制。

三、标准的意义与影响

《SJ 2684-1986半导体发光（可见光）器件外形尺寸》标准的发布和实施，对于半导体发光器件的生产和应用具有深远的影响。它为生产者提供了明确的尺寸要求，有助于提高产品的一致性和可靠性。对于用户而言，标准的实施意味着他们可以期待更高水平的产品性能和质量。这一标准还促进了半导体发光器件市场的规范化，为国内外贸易和技术交流提供了便利。