




“通用数字集成电路测试系统检定规程”的标准号是:JJG 1015-2006
JJG 1015-2006《通用数字集成电路测试系统检定规程》由国家质量监督检验检疫总局于2006-12-08发布,并于2007-03-08实施。
该标准的起草单位为信息产业部工业标准化研究所;起草人是陈大为、吴京燕。
“通用数字集成电路测试系统检定规程”介绍
通用数字集成电路测试系统检定规程是一系列标准化的操作指导,用于确保对各类数字集成电路(IC)进行精确而可靠的评估和检测。该规程涵盖了从基本的电性参数测量到复杂的逻辑功能测试的多个方面。它通常包括了测试设备的校准、测试环境的设置、被测器件的连接以及测试程序的执行等一系列操作步骤。
在制定此类规程时,会考虑不同的测试需求,如直流参数、交流特性、温度效应及长期可靠性等。还涉及对特殊类型电路如模拟-数字转换器(ADC)和数字-模拟转换器(DAC)的专项测试。检定规程也会规定必要的安全措施,以保证测试人员和被测器件的安全。
通用数字集成电路测试系统检定规程的实施旨在提高产品的质量与性能,减少缺陷率,同时为集成电路的设计优化提供准确的反馈数据。通过遵循这些规程,制造商能够保证其产品达到国际标准,从而在全球市场上保持竞争力。
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