SJ 50033.54-1994《半导体分立器件 ＣＳ０５３２型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》

SJ 50033.54-1994《半导体分立器件  ＣＳ０５３２型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》基本信息

标准号：SJ 50033.54-1994

中文名称：《半导体分立器件  ＣＳ０５３２型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》

发布日期：1994-09-30    

实施日期：1994-12-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：电子工业部第五十五研究所

起草人：黄玉英、李祖华、王长福    

中国标准分类号：M01技术管理

SJ 50033.54-1994《半导体分立器件  ＣＳ０５３２型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》介绍

一、标准简介

SJ 50033.54-1994《半导体分立器件 CＳ０５32型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》是一项由中国人民共和国电子工业部于1994年9月30日发布，并自同年12月1日起实施的标准。该标准主要针对砷化镓微波功率场效应晶体管的详细要求和规范，旨在确保这类半导体分立器件的性能、可靠性和一致性。

二、标准适用范围

本标准适用于CＳ０５32型砷化镓微波功率场效应晶体管的生产、检验和使用。它为生产厂家提供了明确的技术要求和测试方法，同时也为用户在选择和使用这类器件时提供了参考依据。

三、技术要求

外观检查

晶体管的外观应无裂纹、毛刺、变形等明显缺陷，且标识清晰可辨。

电气特性

标准规定了晶体管的一系列电气特性，包括但不限于：

工作频率范围

功率增益

噪声系数

饱和电流

导通电阻等

环境适应性

晶体管应能在规定的环境条件下正常工作，包括温度、湿度、振动和冲击等。

可靠性

标准对晶体管的可靠性提出了具体要求，包括平均无故障时间（MTBF）等指标。

四、测试方法

外观检查

通过目测和放大镜检查晶体管的外部缺陷。

电气特性测试

使用专业的测试设备对晶体管的电气特性进行测试，包括频率响应、功率增益、噪声系数等。

环境适应性测试

将晶体管置于规定的环境条件下，观察其工作状态是否正常。

可靠性测试

通过长时间连续工作或加速老化试验，评估晶体管的可靠性。

五、检验规则

标准规定了晶体管的检验分类、抽样方法、检验项目和判定标准。生产方应按照规定进行自检，并接受第三方的监督检验。

六、包装、标志和贮存

包装

晶体管应采用适当的包装材料和方法，以保护器件在运输和存储过程中不受损坏。

标志

包装上应有清晰的产品标识，包括型号、生产日期、检验合格标志等。

贮存

晶体管应在规定的环境条件下贮存，避免高温、高湿等不利因素影响其性能。

SJ 50033.54-1994标准为CＳ０５32型砷化镓微波功率场效应晶体管的生产和应用提供了全面的技术指导。通过遵循这一标准，生产厂家可以提高产品质量，用户则可以更加放心地选择和使用这类高性能的半导体器件。同时，标准的实施也有助于推动我国半导体产业的技术进步和市场竞争力。