SJ/T 10675-2002《电子及电器工业用二氧化硅微粉》

SJ/T 10675-2002《电子及电器工业用二氧化硅微粉》基本信息

标准号：SJ/T 10675-2002

中文名称：《电子及电器工业用二氧化硅微粉》

发布日期：2002-10-30    

实施日期：2003-03-01

发布部门：中华人民共和国信息产业部    

提出单位：中华人民共和国信息产业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所(CESJ)    

起草单位：浙江湖州久立华飞硅微粉有限公司

起草人：钱军、张毓君、刘绮,敖洲    

中国标准分类号：L90电子技术专用材料

国际标准分类号：31.030

SJ/T 10675-2002《电子及电器工业用二氧化硅微粉》介绍

SJ/T 10675-2002《电子及电器工业用二氧化硅微粉》是由中华人民共和国信息产业部发布的关于电子及电器工业用二氧化硅微粉的一项标准。该标准于2002年10月30日发布，并自2003年3月1日起正式实施。

一、标准目的和意义

电子及电器工业是现代工业的重要组成部分，而二氧化硅微粉作为一种重要的电子及电器材料，其质量直接影响到电子及电器产品的性能和可靠性。因此，制定SJ/T 10675-2002标准，旨在规范二氧化硅微粉的生产和使用，提高产品质量，保障电子及电器产品的安全性和稳定性。

二、标准适用范围

SJ/T 10675-2002标准适用于电子及电器工业用二氧化硅微粉的生产、检验和使用。该标准规定了二氧化硅微粉的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等方面的要求。

三、技术要求

1、化学成分：二氧化硅微粉的化学成分应符合表1的规定。

2、物理性能：二氧化硅微粉的物理性能应符合表2的规定。

3、粒度：二氧化硅微粉的粒度应符合表3的规定。

4、杂质含量：二氧化硅微粉中杂质的含量应符合表4的规定。

四、试验方法

1、化学成分分析：采用原子吸收光谱法、X射线荧光光谱法等方法进行化学成分分析。

2、物理性能测试：采用激光粒度分析仪、比表面积测定仪等仪器进行物理性能测试。

3、粒度测定：采用筛分法、沉降法等方法进行粒度测定。

4、杂质含量测定：采用化学分析法、原子吸收光谱法等方法进行杂质含量测定。

五、检验规则

1、生产厂应按照本标准的规定进行生产和检验。

2、每批产品应进行出厂检验，检验项目包括化学成分、物理性能、粒度和杂质含量。

3、产品应按批进行抽样检验，抽样数量和方法应符合本标准的规定。

4、产品应附有质量证明书，内容包括产品名称、规格、生产日期、检验结果等。

六、标志、包装、运输和贮存

1、产品应有明显标志，内容包括产品名称、规格、生产厂名等。

2、产品应采用防潮、防尘的包装，包装材料应符合环保要求。

3、产品在运输过程中应避免受潮、受热、受压等影响。

4、产品应贮存在干燥、通风、阴凉的场所，避免直接日晒和高温。

SJ/T 10675-2002《电子及电器工业用二氧化硅微粉》标准为电子及电器工业用二氧化硅微粉的生产、检验和使用提供了规范和指导，有助于提高产品质量，保障电子及电器产品的安全性和稳定性。