YD/T 701-1993《半导体激光二极管组件测试方法》

YD/T 701-1993《半导体激光二极管组件测试方法》基本信息

标准号：YD/T 701-1993

中文名称：《半导体激光二极管组件测试方法》

发布日期：1994-03-26

实施日期：1994-09-01

发布部门：中华人民共和国邮电部

提出单位：中华人民共和国邮电部

归口单位：邮电部电信传输研究所

起草单位：邮电部武汉邮电科学研究院

起草人：昊济、王玉章

中国标准分类号：M33光通信设备

YD/T 701-1993《半导体激光二极管组件测试方法》介绍

中华人民共和国邮电部于1994年3月26日发布了YD/T 701-1993《半导体激光二极管组件测试方法》标准，并于1994年9月1日起正式实施。

一、标准适用范围

YD/T 701-1993标准适用于半导体激光二极管组件的测试，包括单模和多模类型的激光二极管组件。这些组件可以是脉冲或连续工作模式，波长范围在800nm至1600nm之间。

二、测试环境要求

标准规定了测试环境的具体要求，包括温度、湿度、大气压力等。测试应在温度为25±3℃，相对湿度为30%～70%，大气压力为86～106kPa的条件下进行。

三、测试设备要求

YD/T 701-1993标准对测试设备提出了明确的要求。测试设备应包括光功率计、温度计、电流源、电压源等，这些设备应具有高精度和稳定性，以确保测试结果的准确性。

四、测试项目

1、光学性能测试：包括阈值电流、输出光功率、光谱特性等。

2、电性能测试：包括正向电压、反向击穿电压等。

3、热性能测试：包括工作温度、热阻等。

4、可靠性测试：包括高温存储、高温运行、低温存储、低温运行等。

五、测试方法

1、阈值电流测试：通过调节电流源，测量激光二极管组件在不同电流下的输出光功率，确定阈值电流。

2、光谱特性测试：使用光谱分析仪测量激光二极管组件的光谱分布。

3、正向电压测试：在规定的电流下，测量激光二极管组件的正向工作电压。

4、高温存储测试：将激光二极管组件置于高温环境下存储一定时间，然后测试其性能变化。

六、测试结果的判定

标准对测试结果的判定提出了具体的要求。测试结果应满足规定的性能指标，如阈值电流、输出光功率等。若测试结果不符合要求，应进行原因分析，并采取相应的改进措施。

七、标准的意义

YD/T 701-1993《半导体激光二极管组件测试方法》标准的发布和实施，对于规范半导体激光二极管组件的生产和测试，提高产品质量，促进电子通信技术的发展具有重要意义。通过统一的测试方法和标准，可以确保不同厂家生产的激光二极管组件具有可比性，为用户选择合适的产品提供依据。