JB/T 10574-2013《光学长度计量仪器 基本参数》

JB/T 10574-2013《光学长度计量仪器  基本参数》基本信息

标准号：JB/T 10574-2013

中文名称：《光学长度计量仪器  基本参数》

发布日期：2013-12-31    

实施日期：2014-07-01

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部    

JB/T 10574-2013《光学长度计量仪器  基本参数》介绍

中华人民共和国工业和信息化部于2013年发布了JB/T 10574-2013《光学长度计量仪器 基本参数》标准。

一、标准概述

JB/T 10574-2013《光学长度计量仪器 基本参数》标准规定了光学长度计量仪器的基本参数要求，包括仪器的类型、测量范围、测量精度、分辨率等。

二、仪器类型

1、接触式光学长度测量仪器：通过接触被测物体表面，利用光学原理进行测量。

2、非接触式光学长度测量仪器：无需接触被测物体，通过光学原理进行测量。

3、干涉式光学长度测量仪器：利用光波干涉原理进行测量，具有高测量精度。

三、测量范围

1、接触式光学长度测量仪器：测量范围一般在0.1mm至10mm之间。

2、非接触式光学长度测量仪器：测量范围较广，一般在0.01mm至1000mm之间。

3、干涉式光学长度测量仪器：测量范围更广，可达纳米级别。

四、测量精度

1、接触式光学长度测量仪器：测量精度一般在0.01mm至0.1mm之间。

2、非接触式光学长度测量仪器：测量精度一般在0.005mm至0.1mm之间。

3、干涉式光学长度测量仪器：测量精度最高，可达纳米级别。

五、分辨率

1、接触式光学长度测量仪器：分辨率一般在0.001mm至0.01mm之间。

2、非接触式光学长度测量仪器：分辨率一般在0.0001mm至0.001mm之间。

3、干涉式光学长度测量仪器：分辨率最高，可达亚波长级别。

六、其他要求

1、仪器的稳定性：要求仪器在一定时间内测量结果的波动范围应控制在一定范围内。

2、仪器的重复性：要求仪器在相同条件下多次测量的结果应具有较高的一致性。

3、仪器的可靠性：要求仪器在正常使用条件下具有较长的使用寿命。