SJ 50033.46-1994《半导体分立器件 ２ＣＺ５９型硅整流二极管详细规范》

SJ 50033.46-1994《半导体分立器件  ２ＣＺ５９型硅整流二极管详细规范》基本信息

标准号：SJ 50033.46-1994

中文名称：《半导体分立器件  ２ＣＺ５９型硅整流二极管详细规范》

发布日期：1994-09-30    

实施日期：1994-12-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：国营八七三厂

起草人：彭琳、刘东才、金贵永    

中国标准分类号：L01技术管理

SJ 50033.46-1994《半导体分立器件  ２ＣＺ５９型硅整流二极管详细规范》介绍

SJ 50033.46-1994《半导体分立器件 ２ＣＺ５９型硅整流二极管详细规范》是由中华人民共和国电子工业部制定并发布的半导体分立器件标准。该标准于1994年9月30日发布，并从1994年12月1日起正式实施。

一、标准适用范围

本标准适用于２ＣＺ５９型硅整流二极管的设计、生产、检验和使用。２ＣＺ５９型硅整流二极管是一种用于整流电路的半导体器件，具有较高的整流效率和较低的功耗。它广泛应用于电子设备中的电源转换、信号处理等电路。

二、技术要求

1、外观质量

标准对２ＣＺ５９型硅整流二极管的外观质量提出了明确的要求。器件表面应无裂纹、剥落、氧化等缺陷，电极应清晰可见，无明显损伤。

2、电性能参数

标准规定了２ＣＺ５９型硅整流二极管的电性能参数，包括正向压降、反向电流、反向电压等。这些参数的设定，确保了器件在电路中的正常工作和性能稳定性。

3、可靠性要求

标准对２ＣＺ５９型硅整流二极管的可靠性提出了严格的要求。器件应能承受规定的温度、湿度、振动等环境条件，保证在规定的使用期限内性能不下降。

三、检验方法

1、外观检验

标准规定了外观检验的方法和要求。检验人员应使用适当的工具和设备，对器件的外观质量进行仔细检查，确保其符合标准要求。

2、电性能测试

标准规定了电性能测试的方法和步骤。测试人员应使用专业的测试设备，对器件的电性能参数进行精确测量，确保其满足标准要求。

3、可靠性试验

标准规定了可靠性试验的方法和条件。试验人员应模拟实际使用环境，对器件进行长时间的可靠性测试，评估其在恶劣条件下的性能表现。

四、包装、标志和贮存

1、包装

标准对２ＣＺ５９型硅整流二极管的包装提出了明确要求。包装应具有良好的防护性能，防止器件在运输和贮存过程中受到损伤。

2、标志

标准规定了器件的标志要求。标志应清晰、易读，包含必要的信息，如型号、生产日期等，方便用户识别和使用。

3、贮存

标准对器件的贮存条件提出了要求。贮存环境应干燥、阴凉，避免高温、潮湿等不利条件，保证器件的性能和寿命。

SJ 50033.46-1994《半导体分立器件 ２ＣＺ５９型硅整流二极管详细规范》的制定和实施，对于规范２ＣＺ５９型硅整流二极管的生产和使用，提高电子设备的性能和可靠性具有重要意义。各生产和使用单位应严格按照标准要求进行操作，确保器件的质量和性能。