GB/T 13823.11-1995《振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉法低频振动一次校准》

GB/T 13823.11-1995《振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉法低频振动一次校准》基本信息

标准号：GB/T 13823.11-1995

中文名称：《振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉法低频振动一次校准》

发布日期：1995-04-02    

实施日期：1996-02-01

发布部门：国家技术监督局    

归口单位：全国机械振动与冲击标准化技术委员会    

起草单位：中国计量科学院

中国标准分类号：A57时间、频率计量

国际标准分类号：13.160振动和冲击(与人有关的)

GB/T 13823.11-1995《振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉法低频振动一次校准》介绍

国家标准GB/T 13823.11-1995《振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉法低频振动一次校准》由国家技术监督局发布，并于1996年2月1日起正式实施。

一、适用范围

本标准适用于低频振动传感器的一次校准，主要针对振动频率范围在1Hz至1000Hz的传感器。通过激光干涉法进行校准，可以确保传感器在低频范围内的测量精度。

二、校准方法

1、激光干涉法原理

激光干涉法是一种基于光波干涉原理的测量方法。通过测量传感器在振动作用下的光波干涉信号，可以计算出传感器的输出与实际振动之间的关系。

2、校准设备

进行激光干涉法校准所需的设备包括激光器、光学干涉仪、振动激励器、传感器安装架等。这些设备应具备高精度和稳定性，以确保校准结果的准确性。

3、校准步骤

校准过程主要包括以下几个步骤：

传感器安装与固定：将传感器安装在振动激励器上，确保其与激励器的连接牢固。

激光干涉仪设置：调整激光干涉仪，使其能够接收到传感器在振动作用下的光波干涉信号。

振动激励：通过振动激励器产生不同频率和振幅的振动，使传感器产生相应的输出。

数据采集与处理：采集传感器输出的信号，通过数据处理计算出传感器的校准系数。

结果评估：根据校准系数评估传感器的测量准确性，确定其是否满足使用要求。

三、校准结果的应用

1、校准证书

校准完成后，应出具校准证书，记录校准结果和相关信息。校准证书应包含传感器型号、校准条件、校准系数、有效期限等信息。

2、校准周期

根据传感器的使用情况和环境条件，确定合适的校准周期。通常情况下，传感器的校准周期为1年。

3、传感器维护

定期对传感器进行维护和检查，以确保其测量性能的稳定性和可靠性。

GB/T 13823.11-1995《振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉法低频振动一次校准》作为一项重要的国家标准，对于提高振动与冲击传感器的测量准确性和可靠性具有重要意义。通过激光干涉法校准，可以确保传感器在低频范围内的测量精度。