SJ 20147.1-1992《银和银合金镀覆层厚度测量方法 Ｘ射线荧光光谱法》

SJ 20147.1-1992《银和银合金镀覆层厚度测量方法  Ｘ射线荧光光谱法》基本信息

标准号：SJ 20147.1-1992

中文名称：《银和银合金镀覆层厚度测量方法  Ｘ射线荧光光谱法》

发布日期：1992-11-19    

实施日期：1993-05-01

发布部门：中国电子工业总公司    

提出单位：中国电子工业总公司科技质量局    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：中国华晶电子集团公司等单位

起草人：全庆霄、赵长春、顺兴生等    

中国标准分类号：C01技术管理

SJ 20147.1-1992《银和银合金镀覆层厚度测量方法  Ｘ射线荧光光谱法》介绍

1992年11月19日，中国电子工业总公司发布了一项针对银和银合金镀覆层厚度测量的标准——SJ 20147.1-1992。该标准自1993年5月1日起正式实施。

一、标准适用范围

SJ 20147.1-1992标准主要适用于银和银合金的镀覆层厚度测量。这些镀覆层可以是单层或多层，可以是纯银或含有其他金属元素的银合金。该标准还适用于其他金属元素的镀覆层厚度测量，如铜、锌、镍等。

二、测量原理

该标准采用X射线荧光光谱法进行镀覆层厚度测量。X射线荧光光谱法是一种非破坏性、高效率、高精度的测量方法。其基本原理是利用X射线激发样品表面的原子，使其发生跃迁并产生特征X射线。通过分析这些X射线的能量和强度，可以确定样品中元素的种类和含量，进而计算出镀覆层的厚度。

三、测量仪器

进行X射线荧光光谱法测量，需要使用专门的测量仪器——X射线荧光光谱仪。该仪器主要由X射线源、样品室、探测器和数据处理系统组成。X射线源产生X射线，照射到样品表面；样品表面的原子被激发，产生特征X射线；探测器接收这些X射线信号，将其转换为电信号；数据处理系统对电信号进行分析和处理，得出测量结果。

四、测量步骤

1、准备样品：将待测样品表面清洁干净，去除油污、灰尘等杂质。

2、仪器校准：根据仪器使用说明书，对X射线荧光光谱仪进行校准。

3、样品测量：将样品放置在样品室中，调整X射线的照射角度和强度。

4、数据采集：启动仪器，采集X射线荧光信号。

5、数据处理：对采集到的信号进行分析和处理，计算出镀覆层的厚度。

五、结果评估

1、仪器性能：确保X射线荧光光谱仪的性能稳定，测量误差在允许范围内。

2、样品制备：确保样品表面清洁、平整，无损伤。

3、测量条件：选择合适的X射线照射角度和强度，避免过度激发或信号干扰。

4、数据处理：采用合适的数据处理方法，减少误差。

六、标准的意义

SJ 20147.1-1992标准的发布和实施，为银和银合金镀覆层厚度的测量提供了一种新的、高效的、可靠的方法。这不仅有助于提高电子产品的质量和性能，还有助于推动电子行业的技术进步和产业升级。