SJ 50033.51-1994《半导体分立器件 ＣＳ０５５８型砷化镓微波双栅场效应晶体管详细规范》

SJ 50033.51-1994《半导体分立器件  ＣＳ０５５８型砷化镓微波双栅场效应晶体管详细规范》基本信息

标准号：SJ 50033.51-1994

中文名称：《半导体分立器件  ＣＳ０５５８型砷化镓微波双栅场效应晶体管详细规范》

发布日期：1994-09-30    

实施日期：1994-12-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：电子工业部第十三研究所

起草人：顾振球、张俊杰、李戌德、王长福    

中国标准分类号：M01技术管理

SJ 50033.51-1994《半导体分立器件  ＣＳ０５５８型砷化镓微波双栅场效应晶体管详细规范》介绍

中华人民共和国电子工业部于1994年发布的SJ 50033.51-1994《半导体分立器件 CＳ0558型砷化镓微波双栅场效应晶体管详细规范》就是为了规范这一关键器件的生产和质量控制，确保其在各类电子系统中的可靠性和性能。

一、标准概述

本标准是针对CＳ0558型砷化镓微波双栅场效应晶体管的详细技术规范，它涵盖了器件的设计、制造、测试和质量控制等方面的要求。该标准不仅为生产厂商提供了明确的指导，也为用户在选择和使用这类器件时提供了参考依据。

二、标准内容详解

1、设计要求

本标准规定了CＳ0558型晶体管的设计参数，包括但不限于工作频率、最大工作电压、功耗、增益等关键性能指标。这些参数的设定确保了晶体管能够在预定的工作条件下稳定运行，满足不同应用场景的需求。

2、制造工艺

制造工艺部分详细描述了晶体管的制造流程，包括材料选择、结构设计、加工精度等。本标准对制造过程中的每一个环节都提出了严格的要求，以确保最终产品的一致性和可靠性。

3、测试方法

为了验证晶体管的性能是否符合设计要求，本标准规定了一系列的测试方法。这些测试包括电气性能测试、环境适应性测试、寿命测试等。通过这些测试，可以全面评估晶体管的性能，确保其在实际应用中的可靠性。

4、质量控制

本标准对晶体管的生产过程提出了质量控制的要求，包括原材料的质量标准、生产环境的控制、成品的检验标准等。通过严格的质量控制，可以最大限度地减少产品缺陷，提高产品的市场竞争力。

三、标准实施的意义

自1994年12月1日起实施的本标准，对于提升我国半导体分立器件的生产水平和产品质量具有重要的指导意义。不仅规范了CＳ0558型晶体管的生产流程，还为相关产品的标准化、系列化和产业化发展提供了有力的技术支撑。