《红外焦平面阵列参数测试方法》执行标准号

“红外焦平面阵列参数测试方法”的标准号是：GB/T 17444-2013

GB/T 17444-2013《红外焦平面阵列参数测试方法》由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会于2013-11-12发布，并于2014-04-15实施。

该标准的起草单位为中国科学院上海技术物理研究所；起草人是丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军。

“红外焦平面阵列参数测试方法”介绍

红外焦平面阵列（Infrared Focal Plane Array, IRFPA）是红外成像系统的核心组件，用于捕捉场景的红外线辐射并将其转换为可处理的电信号。其性能参数的测试对于评价和保证红外成像系统的质量至关重要。

测试红外焦平面阵列参数通常需要在暗室中进行，以消除外界环境光的干扰。需要利用一个已知温度和发射率的均匀黑体源作为参考，来测量和校准探测器的响应特性。通过改变黑体的温度，可以得到阵列对于不同温度水平的响应，进而计算出探测器的动态范围、噪声等效温差（NETD）以及响应非均匀性。还需要对焦平面阵列的像素响应均匀性进行评估，这通常包括固定图案噪声和非一致性的测定。这涉及到对焦平面上的每一个像素点在不同温度下的响应进行记录和分析。

在进行测试时，还需要考虑阵列的工作温度及其稳定性。工作温度的波动可能影响探测器的灵敏度和稳定性，因此测试过程中通常需要精确控制和监测探测器温度。同时，为了评估阵列在实际应用环境中的性能，还需要模拟各种背景和工作场景下的测试，以确保探测器能够在不同的环境和工作条件下维持稳定的性能输出。测试结果需与探测器制造商提供的规格参数相比较，确保各项指标符合要求，从而保证红外成像系统的准确度和可靠性。