GB/T 22586-2018《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》

GB/T 22586-2018《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》基本信息

标准号：GB/T 22586-2018

中文名称：《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》

发布日期：2018-03-15    

实施日期：2018-10-01

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局  中国国家标准化管理委员会    

提出单位：中国科学院    

归口单位：全国超导标准化技术委员会(SAC/TC 265)    

起草单位：电子科技大学、清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所

起草人：曾成、罗正祥、补世荣、魏斌、吉争鸣、孙亮    

中国标准分类号：H21金属物理性能试验方法

国际标准分类号：77.040.99金属材料的其他试验方法

GB/T 22586-2018《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》介绍

GB/T 22586-2018《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》是一项推荐性国家标准，于2018年3月15日发布，2018年10月1日起正式实施。

一、测量原理

超导体在微波频率下的表面电阻测量原理主要基于电磁波在超导体表面的反射和吸收特性。当电磁波传播到超导体表面时，部分能量会被反射，部分能量会被吸收，而表面电阻就是描述这种吸收特性的物理量。通过测量电磁波在超导体表面的反射系数，可以计算出表面电阻的大小。

二、测量方法

GB/T 22586-2018标准规定了两种测量超导体表面电阻的方法：直接测量法和比较测量法。

1、直接测量法：直接测量法是将超导体样品放入微波测量系统中，通过测量反射系数来计算表面电阻。这种方法适用于表面电阻较小的超导体样品。

2、比较测量法：比较测量法是将待测样品与已知表面电阻的标准样品进行比较，通过比较两者的反射系数来计算待测样品的表面电阻。这种方法适用于表面电阻较大的超导体样品。

三、测量系统要求

为了确保测量结果的准确性，GB/T 22586-2018标准对测量系统提出了以下要求：

1、微波频率范围：应覆盖超导体的电子学特性测量所需的频率范围，一般为1GHz至100GHz。

2、测量精度：测量系统的精度应满足超导体表面电阻测量的要求，一般要求相对误差不超过5%。

3、环境条件：测量过程中应控制环境温度、湿度等条件，以减少环境因素对测量结果的影响。

四、样品要求

为了确保测量结果的代表性和可比性，GB/T 22586-2018标准对样品提出了以下要求：

1、样品尺寸：样品的尺寸应满足测量系统的要求，一般要求样品的厚度不小于1mm，直径或边长不小于10mm。

2、样品表面：样品表面应平整、无损伤，以减少表面不均匀性对测量结果的影响。

3、样品状态：样品应处于超导状态，即温度低于其临界温度。

五、数据处理与结果表示

GB/T 22586-2018标准规定了数据处理和结果表示的方法，包括：

1、数据处理：测量得到的数据应进行必要的数据处理，如滤波、校正等，以提高数据的准确性和可靠性。

2、结果表示：测量结果应以表面电阻的形式表示，单位为欧姆（Ω）或欧姆厘米（Ω·cm）。

GB/T 22586-2018《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》标准的发布和实施，为超导体的电子学特性测量提供了统一的技术规范，有助于提高测量结果的准确性和可比性，促进了超导技术的发展和应用。