SJ 20157-1992《半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS—TTL或门详细规范》

SJ 20157-1992《半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS—TTL或门详细规范》基本信息

标准号：SJ 20157-1992

中文名称：《半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS—TTL或门详细规范》

发布日期：1992-11-19    

实施日期：1993-05-01

发布部门：中华人民共和国机械电子工业部    

提出单位：中国电子工业总公司    

起草单位：机械电子工业部第四研究所

中国标准分类号：L56半导体集成电路

SJ 20157-1992《半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS—TTL或门详细规范》介绍

中华人民共和国机械电子工业部于1992年11月19日发布了《半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS-TTL或门详细规范》，并于1993年5月1日正式实施。

一、标准适用范围

SJ 20157-1992标准主要适用于JT54LS32和JT54LS86型LS-TTL或门的半导体集成电路。这两种集成电路广泛应用于数字电路系统中，作为逻辑运算的基本单元，具有较高的性能和可靠性。

二、技术要求

标准对JT54LS32和JT54LS86型LS-TTL或门的半导体集成电路的技术要求进行了明确规定，主要包括以下几个方面：

1、电特性：标准对集成电路的输入特性、输出特性、噪声容限、传输延迟时间等电特性参数进行了详细的规定，以确保集成电路的性能满足设计要求。

2、可靠性：标准对集成电路的可靠性进行了规定，包括温度特性、存储时间、数据保持能力等方面的要求，以保证集成电路在不同环境条件下的稳定性和可靠性。

3、物理特性：标准对集成电路的物理尺寸、引脚布局、封装形式等物理特性进行了规定，以便于集成电路的安装和使用。

4、环境适应性：标准对集成电路在不同环境条件下的适应性进行了规定，包括温度、湿度、振动、冲击等方面的要求。

三、测试方法

为了确保集成电路的性能和质量，SJ 20157-1992标准对测试方法进行了详细规定，包括：

1、电特性测试：对集成电路的输入特性、输出特性、噪声容限等电特性进行测试，以验证其性能是否符合规定要求。

2、可靠性测试：对集成电路的存储时间、数据保持能力等可靠性指标进行测试，以评估其在长时间使用过程中的稳定性。

3、环境适应性测试：对集成电路在不同环境条件下的性能进行测试，以评估其适应性。

四、质量控制

标准对集成电路的生产过程和质量控制提出了要求，包括：

1、生产过程控制：要求生产企业在生产过程中严格按照标准规定的技术要求进行控制，确保产品质量。

2、出厂检验：要求生产企业对每批出厂的集成电路进行严格的检验，确保其性能和质量符合标准要求。

3、质量追溯：要求生产企业建立完善的质量追溯体系，对产品的质量进行跟踪和监控。

SJ 20157-1992标准为JT54LS32和JT54LS86型LS-TTL或门的半导体集成电路的设计、生产和应用提供了详细的规范和指导，对于提高集成电路的性能和可靠性、保证电子系统的正常运行具有重要意义。