SJ/T 10015-2013《10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值》

SJ/T 10015-2013《10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值》基本信息

标准号：SJ/T 10015-2013

中文名称：《10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值》

发布日期：2013-10-17

实施日期：2013-12-01

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部

SJ/T 10015-2013《10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值》介绍

SJ/T 10015-2013《10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值》是由中华人民共和国工业和信息化部于2013年10月17日发布的一项标准。该标准自2013年12月1日起正式实施。

一、标准适用范围

本标准适用于10kHz～200kHz音叉石英晶体元件，包括但不限于音叉石英晶体谐振器、音叉石英晶体振荡器等。这些元件广泛应用于通信、计算机、消费电子等领域。

二、测试方法

1、频率测试

频率测试是音叉石英晶体元件测试的重要内容。标准规定了频率测试的方法，包括测量频率偏差、频率温度特性等，确保元件的频率稳定性。

2、负载电容测试

负载电容是影响音叉石英晶体元件性能的重要因素。标准规定了负载电容的测试方法，包括测量负载电容值和负载电容温度系数等。

3.3 激励电平测试

激励电平对音叉石英晶体元件的频率稳定性和输出幅度有重要影响。标准规定了激励电平的测试方法，包括测量激励电平范围和激励电平对频率的影响等。

4、老化测试

老化测试是评估音叉石英晶体元件长期稳定性的重要手段。标准规定了老化测试的方法，包括在不同温度条件下进行老化测试，以及测量老化后的频率变化等。

三、标准值

1、频率偏差

标准规定了音叉石英晶体元件在不同温度范围内的频率偏差允差值，确保元件的频率稳定性。

2、负载电容

标准规定了音叉石英晶体元件的负载电容值及其温度系数的允差范围，保证元件的性能和可靠性。

3、激励电平

标准规定了音叉石英晶体元件的激励电平范围及其对频率的影响的允差值，确保元件在不同激励电平下的稳定性。

4、老化特性

标准规定了音叉石英晶体元件在老化测试后的频率变化允差值，评估元件的长期稳定性。

四、标准意义

SJ/T 10015-2013标准的制定和实施，对于提高音叉石英晶体元件的质量和性能具有重要意义。通过规范测试方法和标准值，可以确保音叉石英晶体元件在各种应用场景下的性能和可靠性，从而提高电子设备的整体性能和稳定性。该标准也有助于推动音叉石英晶体元件行业的技术进步和产业升级。