“高纯石英砂分析方法通则”的标准号是:SJ 3228.2-1989
SJ 3228.2-1989《高纯石英砂分析方法通则》由中华人民共和国机械电子工业部于1989-03-20发布,并于1989-03-25实施。
该标准的起草单位为机械电子工业部第十八研究所;起草人是秦国珍、刘承钧 。
“高纯石英砂分析方法通则”介绍
高纯石英砂分析方法通则是一套标准化的分析程序,用于确保对高纯石英砂的品质和成分进行准确测定。高纯石英砂因其在半导体、光纤以及光伏行业中的关键应用而要求具有极高的纯净度和稳定的物理化学性质。该分析方法通则涵盖了包括杂质元素分析、颗粒大小分布测定、表面特性评价及物理性能测试等多个方面,旨在通过一系列科学严谨的测试手段来综合评估石英砂的性能。
在分析过程中需要使用精密的仪器,如电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)来定量分析微量杂质元素的含量;激光粒度分析仪可以精确测量石英砂颗粒的大小和分布情况;而扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)能够提供关于颗粒表面形态和结构的详细信息。还会用到X射线衍射(XRD)技术来确定石英的晶体结构,以及采用比表面积和孔隙度分析来评估材料的表面特性。通过对这些参数的综合分析,可全面了解高纯石英砂的质量和适用性。
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