SJ 20301-1993《半导体集成电路ＪＦ１５８、ＪＦ１５８Ａ型双运算放大器详细规范》

SJ 20301-1993《半导体集成电路ＪＦ１５８、ＪＦ１５８Ａ型双运算放大器详细规范》基本信息

标准号：SJ 20301-1993

中文名称：《半导体集成电路ＪＦ１５８、ＪＦ１５８Ａ型双运算放大器详细规范》

发布日期：1993-05-11    

实施日期：1993-07-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

提出单位：中国电子工业部科技与质量监督司    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：机械电子工业部四四三三厂

起草人：范建军、崔忠勤    

中国标准分类号：E01技术管理

SJ 20301-1993《半导体集成电路ＪＦ１５８、ＪＦ１５８Ａ型双运算放大器详细规范》介绍

中华人民共和国电子工业部于1993年5月11日发布了标准SJ 20301-1993《半导体集成电路ＪＦ１５８、ＪＦ１５８Ａ型双运算放大器详细规范》，并于同年7月1日正式实施。

一、标准概述

SJ 20301-1993标准旨在规定JF158和JF158A型双运算放大器的技术要求、测试方法、检验规则以及标志、包装、运输和储存等方面的要求。这一标准对于确保产品在设计、生产和使用过程中的一致性和质量控制至关重要。

二、技术要求

1、性能参数

标准详细列出了JF158和JF158A型双运算放大器的关键性能参数，包括但不限于：输入偏置电流、输入失调电压、供电电压范围、带宽、增益带宽积、最大输出电压、温度范围。这些参数为设计者提供了明确的指导，以确保产品能够满足特定的应用需求。

2、环境适应性

标准还规定了集成电路在不同环境条件下的性能要求，如温度、湿度、振动和冲击等，以确保产品在各种环境下的稳定性和可靠性。

三、测试方法

1、测试条件

标准规定了测试集成电路时必须遵循的条件，包括测试环境的温度、湿度、供电电压等。

2、测试程序

详细描述了测试集成电路性能参数的具体步骤和方法，以确保测试结果的准确性和一致性。

四、检验规则

1、抽样检验

标准规定了如何从生产批次中抽取样品进行测试，以评估整个批次的质量。

2、合格判定

明确了产品合格与否的判定标准，包括性能参数是否符合要求、环境适应性是否达标等。

五、标志、包装、运输和储存

1、标志

规定了产品上必须标注的信息，如型号、批号、生产日期等，以便于识别和追溯。

2、包装

详细说明了产品的包装要求，包括包装材料、包装方式等，以保护产品在运输和储存过程中不受损害。

3、运输

提供了运输过程中应遵守的指导原则，以确保产品在运输过程中的完整性。

4、储存

规定了产品在储存时的环境条件和要求，以延长产品的使用寿命。

六、实施与监督

标准规定了标准的实施日期以及相关部门的监督职责，确保标准的执行和产品质量的持续改进。

SJ 20301-1993《半导体集成电路JF158、JF158A型双运算放大器详细规范》为JF158和JF158A型双运算放大器的生产和应用提供了一套完整的技术规范和质量控制标准。通过遵循这些标准，制造商可以确保产品的性能和可靠性，而用户则可以信赖这些产品在各种应用中的稳定性。