




SJ 2534.3-1984《天线测试方法 在天线测试场测量天线辐射方向图》基本信息
标准号:SJ 2534.3-1984
中文名称:《天线测试方法 在天线测试场测量天线辐射方向图》
发布日期:1984-11-01
实施日期:1985-07-01
发布部门:中华人民共和国电子工业部
提出单位:电子工业部标准化研究所
起草单位:电子工业部39所
起草人:柯树人、王书惠
中国标准分类号:A01技术管理
SJ 2534.3-1984《天线测试方法 在天线测试场测量天线辐射方向图》介绍
SJ 2534.3-1984《天线测试方法 在天线测试场测量天线辐射方向图》是中华人民共和国电子工业部于1984年11月1日发布的一项标准。
一、适用范围
SJ 2534.3-1984标准适用于各种类型的天线,包括通信天线、雷达天线、导航天线等。该标准主要针对天线测试场内对天线辐射方向图的测量,不涉及天线的其他测试内容。
二、术语和定义
在SJ 2534.3-1984标准中,对一些专业术语进行了定义和解释,以便于从业人员理解和应用。例如,“天线测试场”是指用于测量天线辐射方向图的场所,通常包括天线测试塔、天线测试设备等。标准还对“辐射方向图”、“增益”、“波束宽度”等术语进行了详细的解释。
三、测量方法
SJ 2534.3-1984标准规定了在天线测试场测量天线辐射方向图的具体方法。需要选择合适的天线测试场,并确保测试场的环境符合标准要求。需要对天线进行精确的安装和调整,以保证测试的准确性。然后,采用标准规定的测量设备和方法,对天线辐射方向图进行测量。对测量结果进行分析和处理,得出天线辐射方向图的相关参数。
四、测量要求
SJ 2534.3-1984标准对测量天线辐射方向图提出了一些具体要求。例如,要求天线测试场的尺寸、形状和材料等应符合标准规定,以保证测试的准确性。还要求测量设备的性能、精度等应满足标准要求,以确保测量结果的可靠性。
五、数据处理
在测量结束后,需要对测量结果进行数据处理和分析。SJ 2534.3-1984标准规定了数据处理的方法和步骤,包括数据的校准、修正、平滑等。还要求对测量结果进行误差分析,以评估测量结果的准确性和可靠性。
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