GB/T 7576-1998《半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范》

GB/T 7576-1998《半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范》基本信息

标准号：GB/T 7576-1998

中文名称：《半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范》

发布日期：1998-01-01    

实施日期：1999-06-01

发布部门：国家质量技术监督局    

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会    

起草单位：电子部四所

中国标准分类号：L42半导体三极管

国际标准分类号：31.080.30三极管

GB/T 7576-1998《半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范》介绍

国家质量技术监督局于1998年发布了GB/T 7576-1998《半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范》。

一、标准概述

《规范》是关于双极型晶体管，特别是高频放大管壳额定双极型晶体管的详细技术标准。它规定了这类晶体管的设计、制造、测试和质量控制等方面的要求，以确保产品能够满足高频放大应用的需求。《规范》的发布和实施，对于提高我国半导体器件的技术水平和市场竞争力具有重要意义。

二、标准内容解读

1、术语和定义

《规范》首先对涉及的术语和定义进行了明确，包括双极型晶体管、高频放大管壳额定等关键概念。这有助于统一行业内的理解和交流，减少因术语歧义导致的误解。

2、技术要求

《规范》详细列出了双极型晶体管的技术要求，包括但不限于：

性能参数：如最大电流、最大电压、频率响应等，确保晶体管在高频放大应用中的性能。

机械特性：如封装尺寸、引脚布局等，以适应不同的安装和使用环境。

环境适应性：规定了晶体管在不同环境条件下的稳定性和可靠性要求。

3、测试方法

为了验证晶体管是否符合《规范》的要求，标准中提供了一系列的测试方法，包括：

电气测试：测量晶体管的电气参数，如电流增益、最大耗散功率等。

机械测试：检查晶体管的机械结构，如引脚的强度和封装的完整性。

环境测试：模拟不同的环境条件，测试晶体管的适应性和耐久性。

4、质量控制

《规范》强调了质量控制的重要性，规定了生产过程中的质量控制措施，如：

原材料检验：确保使用的原材料符合规定的质量标准。

过程控制：监控生产过程中的关键参数，确保产品质量的一致性。

成品检验：对完成的产品进行全面的检验，确保其符合《规范》的所有要求。

三、实施意义

《规范》的实施对于半导体器件制造商和用户都具有重要的意义：

制造商：提供了一个明确的质量标准，帮助制造商提高产品质量，增强市场竞争力。

用户：确保了用户能够获得性能稳定、可靠的半导体器件，降低了维修和更换的成本。

GB/T 7576-1998《半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范》的发布和实施，是我国半导体器件标准化工作的重要里程碑。它不仅规范了双极型晶体管的生产和质量控制，也为我国半导体产业的发展提供了有力的技术支撑。