YS/T 364-2006《纯铱中杂质素的发射光谱分析》

YS/T 364-2006《纯铱中杂质素的发射光谱分析》基本信息

标准号：YS/T 364-2006

中文名称：《纯铱中杂质素的发射光谱分析》

发布日期：2006-05-25    

实施日期：2006-12-01

发布部门：中华人民共和国国家发展和改革委员会    

提出单位：全国有色金属标准化技术委员会    

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会    

起草单位：贵研铂业股份公司

起草人：文劲松、方卫、李楷中    

中国标准分类号：H15贵金属及其合金分析方法

国际标准分类号：77.040.30金属材料化学分析

YS/T 364-2006《纯铱中杂质素的发射光谱分析》介绍

《纯铱中杂质元素的发射光谱分析》（YS/T 364-2006）是由中华人民共和国国家发展和改革委员会发布的一项重要标准，于2006年5月25日发布，并于2006年12月1日正式实施。

一、标准适用范围

本标准适用于纯铱中杂质元素的发射光谱分析。纯铱作为一种高熔点、高密度、高硬度的贵金属，广泛应用于电子、航空、航天、化工等领域。通过发射光谱分析，可以准确检测纯铱中杂质元素的含量，从而确保材料的性能和质量。

二、标准规定内容

1、术语和定义

本标准对纯铱中杂质元素的发射光谱分析涉及的关键术语和定义进行了明确，包括发射光谱分析、纯铱、杂质元素等，为后续的分析方法和结果判定提供了基础。

2、试剂和材料

标准规定了分析过程中所需的试剂和材料，包括高纯酸、高纯盐、高纯水等，要求这些试剂和材料的纯度和质量必须满足分析要求，以保证分析结果的准确性。

3、仪器设备

本标准对发射光谱分析所需的仪器设备进行了详细规定，包括光谱仪、样品制备设备、数据处理软件等。要求这些设备的性能和精度必须满足分析要求，以确保分析结果的可靠性。

4、样品制备

标准对纯铱样品的制备方法进行了详细说明，包括样品的取样、研磨、溶解、稀释等步骤。要求样品制备过程中严格控制操作条件，避免样品污染和损失，以保证分析结果的准确性。

5、分析方法

本标准对纯铱中杂质元素的发射光谱分析方法进行了详细规定，包括样品的激发、光谱的采集、数据处理等步骤。要求分析过程中严格遵循操作规程，确保分析结果的可靠性。

6、结果判定

标准对纯铱中杂质元素的发射光谱分析结果判定进行了明确，包括杂质元素的定量方法、结果的表示和单位等。要求分析结果必须满足相关质量标准和要求，以确保纯铱材料的性能和质量。

三、标准的意义

《纯铱中杂质元素的发射光谱分析》（YS/T 364-2006）的发布和实施，对于规范纯铱中杂质元素的发射光谱分析方法、提高纯铱材料的质量控制和应用领域具有重要意义。通过本标准的实施，可以有效提高纯铱材料的性能和质量，为电子、航空、航天、化工等领域的发展提供有力支持。