SJ/T 11210-1999《石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算》

SJ/T 11210-1999《石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算》基本信息

标准号：SJ/T 11210-1999

中文名称：《石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算》

发布日期：1999-08-26    

实施日期：1999-12-01

发布部门：中华人民共和国信息产业部    

归口单位：电子工业部标准化研究所    

起草单位：国营北京晨星无线电器材厂

起草人：章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林    

中国标准分类号：L21石英晶体、压电元件

SJ/T 11210-1999《石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算》介绍

1999年8月26日，中华人民共和国信息产业部发布了SJ/T 11210-1999《石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算》标准，为石英晶体元件的参数测量提供了规范和指导。

一、标准概述

SJ/T 11210-1999标准是关于石英晶体元件参数测量的第四部分，主要针对频率达30MHz的石英晶体元件。该标准规定了负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法，以及其他导出参数的计算方法。这些参数对于评估石英晶体元件的性能和质量具有重要意义。

二、测量方法

负载谐振频率fL的测量

负载谐振频率fL是指在给定负载下，石英晶体元件的谐振频率。该标准的测量方法主要包括以下几个步骤：

1、选择合适的测量设备，如阻抗分析仪或网络分析仪。

2、将石英晶体元件连接到测量设备。

3、调整测量设备的频率范围，使其覆盖所需的频率范围。

4、测量并记录石英晶体元件的阻抗特性，找到阻抗最大的频率点，即为fL。

负载谐振电阻RL的测量

负载谐振电阻RL是指在负载谐振频率fL下，石英晶体元件的等效电阻。该标准的测量方法主要包括以下几个步骤：

1、在测量fL的基础上，继续使用相同的测量设备。

2、测量并记录在fL频率点的阻抗特性，包括实部和虚部。

3、根据阻抗特性，计算得到RL的值。

三、导出参数的计算

除了负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL外，SJ/T 11210-1999标准还规定了其他导出参数的计算方法。这些参数包括：

1、品质因数Q：反映了石英晶体元件的谐振特性，计算公式为Q = fL / (Δf / 2)，其中Δf为谐振曲线的半峰宽。

2、等效串联电阻ESR：反映了石英晶体元件的损耗特性，计算公式为ESR = RL - R0，其中R0为石英晶体元件的静态电阻。

3、频率温度系数：反映了石英晶体元件的频率随温度变化的特性，计算公式为CT = (fH - fL) / (T1 - T0)，其中fH和fL分别为高温和低温下的谐振频率，T1和T0分别为对应的温度。

SJ/T 11210-1999标准为频率达30MHz的石英晶体元件参数测量提供了详细的规范和指导。通过准确测量负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL，以及计算其他导出参数，可以全面评估石英晶体元件的性能和质量。